APARATO DE MEDICION POR IRRADIACION NEUTRONICA PULSADA DEL CONTENIDO EN SUS DIFERENTES CONSTITUYENTES DE UN MATERIAL A GRANEL Y PROCEDIMIENTO DE DETERMINACION DE ESTE CONTENIDO POR APLICACION DE ESTE APARATO DE MEDICION.
INSTALACION DE DETERMINACION POR IRRADIACION NEUTRONICA PULSADA DEL CONTENIDO DE LOS DIVERSOS CONSTITUYENTES DE UN MATERIAL A GRANEL.
UTILIZA EL APARATO DE MEDIDA (1) QUE COMPRENDE UNA FUENTE DE IRRADIACION NEUTRONICA Y UNA ZONA DE MEDICION DE LA RADIACION GAMMA, MEDIOS (2) QUE ASEGURAN LA CIRCULACION CONTINUA DE DICHO MATERIAL A GRANEL, MEDIOS DE RECEPCION DE LOS DATOS DE LOS ESPECTROS RESULTANTES (6) Y MEDIOS DE CALCULO (7) QUE PERMITEN UNA COMPARACION DE ESTOS DATOS DEL ESPECTRO CON LOS QUE RESULTAN DE LAS MEDICIONES EFECTUADAS EN CONDICIONES IDENTICAS SOBRE CADA UNO DE LOS CONSTITUYENTES PUROS CUYA PRESENCIA ES BUSCADA, ASI COMO MEDIOS DE LECTURA (8) DEL RESULTADO DEL CALCULO PROMEDIADO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ETAT FRANCAIS, MINISTERE DE L'EQUIPEMENT, DU LOGEMENT, DU TRANSPORT ET DE LA MER, LABORATOIRE CENTRA
CIMENTS LAFARGE.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 58, BOULEVARD LEFEBRE,75015 PARIS.
Inventor/es: ALEXANDRE, JACQUES, LOUIS, EUG NE, BARON, JEAN-PIERRE, JO L, FRAN OIS, DEBRAY, L ON, FLEURET, FR D RIC.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 21 de Junio de 1991.
Fecha Concesión Europea: 27 de Noviembre de 1996.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/222 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › utilizando análisis por activación de neutrones [NAA].
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes, Australia, Brasil, Canadá, Japón, Estados Unidos de América.
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