PROCEDIMIENTO DE PRUEBA DE RADIOFRECUENCIA SIN HILOS DE CIRCUITOS INTEGRADOS Y OBLEAS.

Aparato para probar un circuito integrado sobre una oblea que comprende: a) un circuito de prueba formado sobre la oblea con el circuito integrado

, comprendiendo el circuito de prueba: i) un circuito oscilador en anillo variable que tiene un circuito oscilador en anillo base y una pluralidad de subcircuitos acoplados al circuito oscilador en anillo base; y, ii) un circuito de control para acoplar de manera selectiva los subcircuitos al circuito de oscilador en anillo base para cambiar la frecuencia de oscilación de dicho circuito oscilador en anillo variable en base a un subcircuito seleccionado; y, b) una unidad de prueba independiente de la oblea, estando la unidad de prueba unida sin hilos al circuito de prueba para transmitir una señal para activar el circuito de prueba, en el que el circuito de prueba, cuando es activado por la unidad de prueba, dirige una prueba independiente del circuito integrado para al menos uno de los mencionados subcircuitos seleccionados por el circuito de control, estando el resultado de la mencionada prueba representado mediante dicho cambio en la frecuencia de dicho circuito oscilador en anillo variable.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: THE GOVERNORS OF THE UNIVERSITY OF ALBERTA.

Nacionalidad solicitante: Canadá.

Dirección: INDUSTRY LIAISON OFFICE, 222 CAMPUS TOWERS, 8625 -112 STREET,EDMONTON, ALBERTA T6G 2E1.

Inventor/es: MOORE, BRIAN.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 15 de Mayo de 2001.

Fecha Concesión Europea: 31 de Agosto de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES... > Dispositivos para verificar propiedades eléctricas;... > G01R31/3185 (Reconfiguración para los ensayos, p. ej. LSSD, divisiones)
  • SECCION H — ELECTRICIDAD > ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS > DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS... > Procedimientos o aparatos especialmente adaptados... > H01L21/66 (Ensayos o medidas durante la fabricación o tratamiento)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES... > Dispositivos para verificar propiedades eléctricas;... > G01R31/303 (de circuitos integrados (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad))

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.

google+ twitter facebook