MEDICION OPTICA TRIDIMENSIONAL CON VARIOS PUNTOS DE APROXIMACION.
Procedimiento para la medición óptica tridimensional de superficies de objetos,
en el que se proyectan dibujos de muestra sobre la superficie del objeto y se determinan las coordenadas espaciales de puntos de medición sobre la superficie del objeto, utilizando un análisis de similitud de los recorridos de los valores acromáticos en las imágenes de la superficie del objeto tomadas por al menos dos cámaras matrices, en el que: a) cada una de las cámaras matrices proporciona en forma ya de por sí conocida una secuencia de N imágenes consecutivas entre sí en el tiempo, desplazándose y/o girando entre las tomas fotográficas de las imágenes el dibujo de muestra proyectado, con valores predeterminados, y/o modificándose la estructura del dibujo de muestra: b) en forma ya de por sí conocida se determina un primer punto de aproximación para el cálculo de un primer punto de medición; c) por medio de proyección matemática se asignan al punto de aproximación o a una cantidad de puntos próximos a este punto de aproximación las coordenadas en las superficies de los sensores de las dos cámaras matrices; d) se determinan por medio de interpolación de subelementos de imagen (subpixels) los valores acromáticos en las N imágenes de cada una de las dos cámaras matrices en las posiciones de los puntos proyectados y a partir de estos valores se calcula un par de cifras de valores acromáticos; e) partiendo del punto de aproximación determinado en la etapa b) se determinan m 1 puntos de aproximación adicionales para calcular el primer punto de medición y, por medio de proyección matemática, se les asignan a estos m puntos de aproximación o a los números de puntos de aproximación próximos a estos m puntos de aproximación las coordenadas de las superficies de los sensores de ambas cámaras matrices; f) se determinan los valores acromáticos en las N imágenes de cada una de las dos cámaras matrices en las posiciones de los puntos proyectados según la etapa e), por medio de la interpolación de subelementos de imagen (subpixels) y a partir de ellos se calculan m pares de cifras de valores acromáticos; g) se determinan las medidas de similitud de las cifras de valores acromáticos pertenecientes a cada uno de los m+1 pares; h) en forma ya de por sí conocida se calcula como punto de medición sobre la superficie del objeto que se desea medir el punto de aproximación o un número de puntos próximos al mismo, para el que tiene una similitud máxima del par de cifra de valores acromáticos determinado según las etapas e) y f).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: INSTITUT FUR NEUROSIMULATION UND BILDTECHNOLOGIEN GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: LEIPZIGER STRASSE 44,39120 MAGDEBURG.
Inventor/es: ALBRECHT, PETER, MICHAELIS, BERND, PROF.DR.-ING.HABIL.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 13 de Marzo de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
- G06T7/00 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06T TRATAMIENTO O GENERACIÓN DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL. › Análisis de imagen.
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