Disposición de antena así como su uso.
(11/11/2013) Disposición de antena (100, 100', 100"), que comprende al menos un sustrato portador (10, 10', 10")eléctricamente aislante y al menos una capa eléctricamente conductora (20, 20', 20") aplicada en al menos un ladodel sustrato portador (10, 10', 10"), presentando la primera capa eléctricamente conductora (20, 20', 20") unaprimera zona plana y una segunda zona plana, presentando la primera zona plana de la capa eléctricamenteconductora la forma de al menos una estructura de antena (3a, 3', 3"), caracterizada porque la al menos unaestructura de antena (3a, 3', 3") se presenta de forma eléctricamente aislada mediante un foso de aislamiento (4, 4',4") de la segunda zona plana…
Lámina con semiconductores orgánicos.
(11/09/2013) Lámina , en la que la lámina incluye al menos un elemento constructivo en tecnología de semiconductores orgánicos, en particular uno o varios transistores de efecto de campo orgánicos, caracterizada por que una funcionalidad eléctrica, en particular aquélla al menos de un elemento constructivo electrónico en tecnología de semiconductores orgánicos, está combinada con características ópticas, en la que
a) la lámina presenta una estructura espacial moldeada entre capas de la lámina, que por un lado estructura en forma de patrón una capa del elemento constructivo electrónico en tecnología de semiconductores orgánicos…
ESTRUCTURACION DE CAPAS FUNCIONALES ELECTRICAS MEDIANTE UNA LAMINA DE TRANSFERENCIA Y ESTRUCTURACION DEL ADHESIVO.
(19/10/2010) Método para la producción de una lámina con al menos un elemento constructivo eléctrico, particularmente en la tecnología de semiconductores orgánicos, en el que sobre una lámina de base se aplica una capa de adhesivo de un adhesivo reticulable por radiación, que la capa de adhesivo del adhesivo reticulable por radiación se aplica con una forma estructurada con forma de patrón sobre la lámina de base y/o se irradia con forma de patrón de tal manera que la capa de adhesivo se endurece de manera estructurada con forma de patrón, que una lámina de transferencia , que presenta una lámina de soporte y una capa funcional eléctrica , se aplica con una orientación de la…
ELEMENTO OPTICAMENTE VARIABLE CON SERIE DE CAPAS DE PELICULA DELGADA.
Sección de la CIP Técnicas industriales diversas y transportes
(01/09/2007). Ver ilustración. Solicitante/s: LEONHARD KURZ GMBH & CO. KG. Clasificación: B42D15/10.
Un elemento ópticamente variable, particularmente un elemento de seguridad ópticamente variable para la protección de billetes de banco, tarjetas de crédito y similares, que comprende una capa de película delgada para la producción de cambios cromáticos mediante interferencia, y una capa adicional, caracterizado porque la película delgada se forma como un elemento de película delgada parcial, que cubre la zona superficial de la capa adicional solamente por zonas y conforme a un patrón.
LAMINA DECORATIVA PARA DECORAR SUPERFICIES DE SUSTRATO TRIDIMENSIONALES.
Sección de la CIP Técnicas industriales diversas y transportes
(16/10/2000). Ver ilustración. Solicitante/s: LEONHARD KURZ GMBH & CO.. Clasificación: B32B27/08, B44C1/17, B32B33/00.
LA INVENCION SE REFIERE A UNA LAMINA DECORATIVA PARA DECORAR SUPERFICIES DE SUSTRATO TRIDIMENSIONALES MEDIANTE CALENTAMIENTO. LA LAMINA CONSTA DE UNA PELICULA PORTADORA QUE ES BASICAMENTE UNA PELICULA AMORFA DE POLIAMIDA O POLIESTER NO ESTIRADO SOBRE LA QUE SE DISPONE UNA CAPA DECORATIVA FORMADA POR AL MENOS UNA CAPA DE BARNIZ IMPRESO PARA OBTENER UNA DECORACION PERFECTAMENTE AJUSTADA.
PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION DE LA PROFUNDIDAD DE UNA MICROESTRUCTURA.
Sección de la CIP Física
(16/04/1999). Solicitante/s: LEONHARD KURZ GMBH & CO.. Clasificación: G01B11/22.
SE PROPONE UN PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION DE LA PROFUNDIDAD DE UNA MICROESTRUCTURA MEDIANTE TRANSFERENCIA DE LA ESTRUCTURA A TRAVES DE UN PROCEDIMIENTO DE ESTAMPACION EN UNA CAPA DEFORMABLE, EN DONDE SE DISPONE DE UNA ESTRUCTURA DE REJILLA DE REFERENCIA SIMPLE GEOMETRICAMENTE EN LA MICROESTRUCTURA A SER TRANSFERIDA. ESTA ESTRUCTURA DE REJILLA DE REFERENCIA ORIGINA UNA INTERFERENCIA EN UN RAYO DE LUZ DE MEDICION. CON DISTRIBUCION DEL COLOR PRODUCIDO SE SUMINISTRA UNA MEDICION PARA LA PROFUNDIDAD DE ESTRUCTURA OBTENIDA.
