(05/02/2020). Solicitante/s: TE Connectivity Germany GmbH. Inventor/es: SCHMIDT, HELGE, FRECKMANN,DOMINIQUE, SACHS,SÖNKE, REEDER,CRAIG, SARRAF,DAVID, PANOS,KONSTANTINOS, MYERS,MARJORIE, WEIER,EVA.

Dispositivo para producir un parche de una estructura de capa sobre un sustrato mediante la aplicación de un material sobre el sustrato y la fusión del material dirigiendo un haz de electrones de alta energía sobre el material, y para medir un espesor (T) del parche , en particular un área funcional de un elemento eléctrico , que comprende una fuente de electrones para emitir un haz de electrones, un dispositivo de aceleración de electrones para acelerar los electrones en el haz de electrones, un detector para detectar una señal procedente del parche sometido al haz de electrones, estando adaptado el dispositivo para mover el parche y el haz de electrones uno con respecto al otro, y comprendiendo el dispositivo un dispositivo de análisis para determinar el espesor (T) del parche , estando adaptado el dispositivo para fundir el parche (2, 2A) con el haz de electrones.

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(16/04/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: VAUCHER, CHRISTOPHE. Inventor/es: VAUCHER, CHRISTOPHE.

Proceso para establecer una corriente eléctrica en un conductor sin contacto físico con éste último caracterizado porque consiste; - en disponer de frente y próximo al conductor una placa provista de una pluralidad de zonas conductoras que pueden ser llevadas individualmente a cualesquiera potenciales eléctricos ajustables, - en aplicar un haz de partículas sobre un primer punto (C) del conductor para arrancarles electrones, y - en inyectar en paralelo electrones en un segundo punto (B) del conductor entre el primer punto (C) y el segundo punto (B).

(16/10/1994). Solicitante/s: ICT INTEGRATED CIRCUIT TESTING GESELLSCHAFT FUR HALBLEITERPRUFTECHNIK MBH. Inventor/es: BRUNNER, MATTHIAS.

PROCEDIMIENTO CONOCIDO PARA LA PRUEBA DE ESTRUCTURAS DE CONDUCTORES ESTAN UTILIZABLE SIN ERROR SOLO CUANDO LA CARGA PRODUCIDA CON ASISTENCIA DE UN HAZ DE ELECTRONES QUEDA ACUMULADO EN LA ESTRUCTURA DURANTE EL PROCEDIMIENTO DE MEDICION COMPLETO. PORQUE NO TODAS LAS PLACAS DE CIRCUITO IMPRESO Y MODULOS DE CABLEADO MUESTRAN RESISTENCIAS DEL AISLAMIENTO SUFICIENTES / ALTOS, SE PUEDEN DESCARGAR PARTES DE LA ESTRUCTURA A TRAVES DE CORRIENTES DE FUGA HASTA QUE UNA SEÑAL DE ELECTRONES SECUNDARIOS MEDIDO EN LOS CAMPOS EN RESPECTO, ENGAÑAR UNA INTERRUPCION QUE NO EXISTE EN EFECTIVO. PARA LA COMPENSACION DE LA PERDIDA DE CARGA SE PROPONE CONFORME AL INVENTO, QUE SE EXPLORE LA ESTRUCTURA DE CONDUCTOR CON UN SEGUNDO HAZ DE ELECTRONES CON UNA SUPERFICIE GRANDE DURANTE LA MEDICION.