CIP-2021 : G01R 29/22 : Medida de propiedades piezoeléctricas.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00.
G01R 29/22 · Medida de propiedades piezoeléctricas.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Sistema y método de monitoreo de horno de arco eléctrico.
(27/04/2016). Solicitante/s: GRAFTECH INTERNATIONAL HOLDINGS INC. Inventor/es: GERHAN,RONALD E, LUGO,NICOLAS, LEHR,DAVE A, GARCIA,FERNANDO MARTINEZ.
Un método para monitorear un horno de arco eléctrico que comprende los pasos de:
recabar datos acerca del funcionamiento de un horno de arco eléctrico , incluyendo los datos datos eléctricos recabados automáticamente de un dispositivo de monitoreo del horno e información del rendimiento recabada automáticamente de al menos un ordenador lógico programable ;
transmitir los datos recabados a un servidor del sistema de monitoreo del horno que tiene un sistema de visualización de monitoreo del horno conectado operativamente ;
transmitir los datos recabados a través de una red informática global del servidor del sistema de monitoreo del horno a un servidor web ;
generar informes que proporcionan información relativa al funcionamiento histórico del horno; y
mostrar los datos recabados y los informes generados básicamente en tiempo real a usuarios autorizados a través de uno o más del sistema de visualización de monitoreo del horno y el servidor web.
PDF original: ES-2570539_T3.pdf
Sistema y método de monitoreo de hornos de arco eléctrico.
(19/08/2015) Un método para monitorear un horno de arco eléctrico , que comprende las siguientes etapas:
recolección de datos sobre el funcionamiento de un horno de arco eléctrico , que incluye datos eléctricos recolectados automáticamente desde un dispositivo de monitoreo de horno, datos ingresados manualmente por un operador en un dispositivo de entrada de información e información de rendimiento recolectada automáticamente de al menos una computadora lógica programable ;
transmisión de los datos recolectados a un servidor de sistema de monitoreo de horno conectado operativamente a un sistema de visor de monitoreo de horno ;
suministro de una base de datos remota alojada en un servidor web , que almacene datos históricos sobre el funcionamiento del horno de arco eléctrico ;
transmisión…
PROCEDIMIENTO PARA OPTIMIZAR UN ACCIONADOR PIEZOELECTRICO, EN PARTICULAR PARA UN APARATO DE FACOEMULSIFICACION, A TRAVES DE LA DETECCION DINAMICA DE SUS CARACTERISTICAS ELECTROMECANICAS Y APARATO ASOCIADO.
(01/08/2005). Solicitante/s: OPTIKON 2000 S.P.A. Inventor/es: ANGELINI, GIOV. BATTISTA, OPTIKON 2000 S.P.A., REGINI, GUALTIERO, OPTIKON 2000 S.P.A.
LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO DE OPTIMIZACION PARA ACTIVAR UN ACCIONADOR PIEZOELECTRICO POR DETECCION DINAMICA DE SUS CARACTERISTICAS ELECTROMECANICAS, ASI COMO A UN DISPOSITIVO, EN PARTICULAR UN FACOEMULSIFICADOR BASADO EN DICHO PROCEDIMIENTO, INCLUYENDO EL CITADO ACCIONADOR PIEZOELECTRICO UN TRANSDUCTOR PIEZOELECTRICO , DE DOS TERMINALES (1A) ACTIVADAS POR LA TENSION, CARACTERIZANDOSE DICHO PROCEDIMIENTO PORQUE, PARA LA DETECCION DE SUS CARACTERISTICAS ELECTROMECANICAS, EL ACCIONAMIENTO DE DICHO TRANSDUCTOR SE SUSPENDE CICLICAMENTE A FIN DE DETECTAR LOS PARAMETROS CARACTERISTICOS DE SU MOVIMIENTO LIBRE POR DETECCION DE LOS PARAMETROS DE LA SEÑAL GENERADA POR EL CITADO TRANSDUCTOR EN LOS EXTREMOS DE LOS DOS TERMINALES CITADOS (1A).
SISTEMA DE CARACTERIZACION DE SENSORES DE CRISTAL DE CUARZO RESONANTEEN MEDIOS FLUIDOS, Y PROCEDIMIENTO DE CALIBRACION Y COMPENSACION DE LA CAPACIDAD DEL CRISTAL DE CUARZO.
(16/02/2005) Sistema de caracterización de sensores de cristal de cuarzo resonante en medios fluidos, y procedimiento de calibración y compensación de la capacidad del cristal de cuarzo. El sistema de la invención suministra continua y automáticamente la frecuencia de resonancia serie y la resistencia de la rama dinámica y de un resonador de cuarzo. La frecuencia suministrada es independiente de la resistencia dinámica y de la capacidad estática del cristal. El sistema está diseñado para compensar los efectos capacitivos en paralelo con el sensor, incorporando un bucle de enganche de fase y un circuito que proporciona la resistencia dinámica del resonador, además, incluye procedimientos para la calibración del circuito externo al sensor y para la compensación capacitiva. La invención tiene utilidad en aplicaciones en que se utilizan resonadores de cuarzo como…
SISTEMA PARA COMPENSAR LOS EFECTOS DE ROZAMIENTO VISCOSO EN LA MEDIDA DE LA FRECUENCIA DE RESONANCIA DE UN CRISTAL PIEZOMETRICO EN UN FLUIDO.
(01/10/2001) Sistema para compensar los efectos de rozamiento viscoso en la medida de la frecuencia de resonancia de un cristal piezométrico en un fluido. Sistema de medida para conocer los parámetros eléctricos de un cristal piezoeléctrico en estado de resonancia y sumergido en un fluido, e indirectamente, medir los cambios de masa superficial del sensor y de variaciones de las propiedades físicas del medio fluido tales como densidad y viscosidad o rozamiento viscoso. Se emplea un método de medida de tipo pasivo donde el resonador es excitado por una fuente externa de frecuencia variable, y que está basado en puentes de impedancia y en…
APARATO E INSTALACION PARA MEDIR LA PIEZO-ELECTRICIDAD OSEA INVERSA Y EL CORRESPONDIENTE METODO DE MEDIDA.
(01/11/1998). Ver ilustración. Solicitante/s: BARDASANO RUBIO, JOSE LUIS RAMOS JACOME, JOSE LUIS PICAZO ALBA, MARIA LUISA. Inventor/es: BARDASANO RUBIO,JOSE LUIS, RAMOS JACOME,JOSE LUIS, PICAZO ALBA, MARIA LUISA.
APARATO E INSTALACION PARA MEDIR LA PIEZO-ELECTRICIDAD OSEA INVERSA Y EL CORRESPONDIENTE METODO DE MEDIDA. SE PROPORCIONA UN APARATO PARA MANTENER SUJETA UNA MUESTRA OSEA (H) ENTRE DOS AISLADORES MECANICAMENTE INDEFORMABLES, Y SOMETER A DICHA MUESTRA POR MEDIO DE ELECTRODOS DE EXCITACION DISPUESTOS A SU ALREDEDOR A UNA SEÑAL ELECTRICA DE EXCITACION (E) DE AMPLITUD Y FRECUENCIA APROPIADAS, MIDIENDO LA DEFORMACION MECANICA EXPERIMENTADA POR LA MUESTRA A PARTIR DE LA RESPUESTA ELECTRICA DE UN TRANSDUCTOR ELECTROMECANICO.
APARATO E INSTALACION PARA MEDIR LA PIEZO-ELECTRICIDAD OSEA DIRECTA Y EL CORRESPONDIENTE METODO DE MEDIDA.
(01/11/1998). Ver ilustración. Solicitante/s: BARDASANO RUBIO, JOSE LUIS RAMOS JACOME, JOSE LUIS PICAZO ALBA, M. LUISA. Inventor/es: BARDASANO RUBIO,JOSE LUIS, RAMOS JACOME,JOSE LUIS, PICAZO ALBA, MARIA LUISA.
APARATO E INSTALACION PARA MEDIR LA PIEZO-ELECTRICIDAD OSEA DIRECTA Y EL CORRESPONDIENTE METODO DE MEDIDA. SE PROPORCIONA UN APARATO PARA MANTENER SUJETA UNA MUESTRA OSEA (H) ENTRE DOS SOPORTES MECANICAMENTE INDEFORMABLES Y ELECTRICAMENTE AISLANTES, Y SOMETER A LA MUESTRA A UN ESFUERZO DE COMPRESION POR MEDIO DE UN TRANSDUCTOR ELECTROMECANICO CON UNA MEMBRANA ELASTICA FIJA A UNO DE LOS SOPORTES , APLICANDO UNA SEÑAL ELECTRICA DE EXCITACION (E) DE AMPLITUD Y FRECUENCIA APROPIADAS, Y MEDIR POR MEDIO DE ELECTRODOS LA TENSION GENERADA AL SOMETER A LA MUESTRA OSEA (H) AL PRECITADO ESFUERZO MECANICO.
PROCESO PARA MEDIR CUATRO FRECUENCIAS PARA CRISTALES RESONADORES ACOPLADOS DUALMENTE.
(16/05/1997). Solicitante/s: ERICSSON GE MOBILE COMMUNICATIONS INC.. Inventor/es: ROBERTS, GERALD EWING, TOLIVER, SAMUEL, DANIELS, JOHN UPDYKE, JR.
SE PRESENTA UN TERCER CASO O MANERA DE OBTENER LAS CUATRO FRECUENCIAS CRITICAS UTILES EN LA MEDIDA EXACTA DE CRISTALES RESONADORES DE ACOPLAMIENTO DUAL, EN LA QUE AMBOS PUERTOS DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL SE MONITORIZAN, EN VEZ DE UN PUERTO SIMPLE COMO EN LOS CASOS YA CONOCIDOS. AQUI, EL PUERTO B POR EJ. SE MONITORIZA CON EL LADO A CIRCUITADO EN MODO ABIERTO O CON UN CONDENSADOR EN PARALELO CON EL, Y EL CUERPO B SE MONITORIZA CON EL LADO B CORTOCIRCUITADO.
