CIP-2021 : G01Q 70/18 : Funcionalización.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01Q TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP].
G01Q 70/00 Aspectos generales de las sondas SPM, de su fabricación o de su instrumentación relacionada, en tanto en cuanto no están adaptados a una única técnica SPM cubierta por el grupo G01Q 60/00.
G01Q 70/18 · · Funcionalización.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO.
(30/01/2020). Solicitante/s: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Inventor/es: PEREZ RIGUEIRO,Jose, GUINEA TORTUERO,Gustavo Victor, DAZA GARCIA,Rafael, COLCHERO PAETZ,Luis.
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado dela etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcionalizada obtenida por dicho método.
MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO.
(04/10/2018). Solicitante/s: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Inventor/es: PEREZ RIGUEIRO,Jose, GUINEA TORTUERO,Gustavo Victor, DAZA GARCIA,Rafael, COLCHERO PAETZ,Luis.
Método para obtener puntas sensoras de microscopia de fuerza atómica funcionalizadas mediante silanización por vapor activado,y las puntas obtenidas por dicho método.
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado de la etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcional izada obtenida por dicho método.
PDF original: ES-2684851_A1.pdf