CIP-2021 : G01R 31/265 : Ensayos sin contactos.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
G01R 31/265 · · Ensayos sin contactos.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Procedimiento para el análisis de sistemas fotovoltaicos de capas por medio de termografía.
(06/08/2014) Procedimiento para el análisis de evaluación de un sistema fotovoltaico de capas (S), con las siguientes etapas:
generación de una corriente eléctrica en el sistema de capas ;
generación de una imagen resuelta localmente de la radiación térmica de una superficie del sistema de capas ;
determinación de una distribución de la intensidad de la radiación térmica, relacionada con el número respectivo de puntos de la imagen con el mismo valor de la intensidad;
determinación de un valor medio/mediana de la intensidad a partir de la distribución de la intensidad;
determinación de un intervalo de la intensidad que se basa en la distribución de la intensidad a través de la aplicación de una regla de cálculo predeterminable;
determinación de un índice a través de la suma de productos, dados respectivamente por el número de puntos…
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA DEPENDENCIA DE UNA PRIMERA MAGNITUD DE MEDIDA RESPECTO DE UNA SEGUNDA MAGNITUD DE MEDIDA.
(01/12/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: AMECON GMBH. Inventor/es: ORSCHEL, BENNO, HELM, JAN, SROCKA, BERND.
Procedimiento para determinación de la dependencia de una primera magnitud de medición (Y) respecto de una segunda magnitud de medición (P), donde (a) la segunda magnitud de medición (P) es modificada periódicamente con una frecuencia (f0), y (b) la primera magnitud de medición (Y) modificada es medida de manera correspondiente caracterizado porque a partir de la señal de medición obtenida de la primera magnitud de medición (Y) se determinan los componentes de la primera magnitud de medición (Y) con al menos una pluralidad de frecuencias, y (d) a partir de los componentes determinados de esta manera se reconstruye, mediante procesamiento de las señales, la primera magnitud de medición (Y) para al menos una pluralidad de valores de la segunda magnitud de medición.
