CIP-2021 : G01R 31/28 : Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).

CIP-2021GG01G01RG01R 31/00G01R 31/28[1] › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).

G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).

G01R 31/28 · Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

PERFECCIONAMIENTOS EN LOS DISPOSITIVOS DE CONTROL Y DIAGNOSTICO PARA INSTALACIONES ELECTRICAS INSTALADAS A BORDE DE VEHICULOS AUTOMOVILES.

(16/01/1987). Solicitante/s: FIAT AUTO S.P.A..

MODIFICACIONES EN DISPOSITIVOS DE CONTROL Y DIAGNOSTICO PARA INSTALACIONES ELECTRICAS EN VEHICULOS AUTOMOVILES. CONSISTENTES EN UNA CAJA DE MANDO PROVISTA DE MEDIOS DE CONEXION A UNA FUENTE DE ALIMENTACION ELECTRICA Y QUE CONTIENE UN MODULO CIRCUITARIO CON UNA ENTRADA PARA LA CONEXION A UN TESTER ELECTRICO Y UNA SALIDA CONECTADA A UN CABLE TERMINADO POR UN CONECTOR PROVISTO DE UNA SERIE DE CLAVIJAS DIFERENTES (5A, 5B, 5C) DE CONEXION A LOS TERMINALES DE LAS INSTALACIONES QUE SE HAN DE CONTROLAR; DOS SELECTORES (A, B); MEDIOS DESVIADORES INTERPUESTOS ENTRE LOS DOS SELECTORES (A, B) Y LA ENTRADA.

SISTEMA DE ANALISIS DE CIRCUITOS PARA LA DETECCION DE AVERIAS.

(16/11/1986). Solicitante/s: CASTELLS MUÑOZ,JORGE.

SISTEMA DE ANALISIS DE CIRCUITOS PARA LA DETECCION DE AVERIAS PARA ENTRENAMIENTO DE PERSONAL TECNICO. CONSISTE EN SIMULAR UNA AVERIA EN EL CIRCUITO DE FORMA QUE SEA POSTERIORMENTE DETECTADA. CIRCUITOS SIMPLES PUEDEN CONECTARSE ENTRE SI PARA DAR LUGAR A CIRCUITOS MAS COMPLEJOS QUE DEBEN SER ANALIZADOS DESPUES EN SU CONJUNTO. ALGUNOS DE LOS CIRCUITOS FUNCIONAN PERFECTAMENTE MIENTRAS QUE OTROS PRESENTAN DIVERSAS ANOMALIAS. LOS MODULOS O PLACAS PORTADORAS SE INTERRELACIONAN FUNCIONALMENTE A TRAVES DE LA PROPIA ESTRUCTURA BASE, MEDIANTE SISTEMAS DE CONEXION RAPIDA.

UNA INSTALACION PARA COMPROBAR CIRCUITOS ELECTRONICOS FUNCIONALES.

(16/07/1986). Solicitante/s: UTI CORPORATION.

SISTEMA PARA COMPROBAR CIRCUITOS ELECTRONICOS FUNCIONALES. CONSTA DE: UNA PRIMERA SECCION O SECCION DE PUNTOS DE CONTROL QUE TIENE, UN SEÑALIZADOR DE PUNTO DE CONTROL QUE RECIBE UNA ENTRADA DE DATOS PROCEDENTES DE LA LINEA (CPSDF) Y LA LINEA (CPCLK), UNOS EXCITADORES DE SALIDA CON LINEAS DE ENTRADA Y DE SALIDA Y UN DECODIFICADOR/DEMULTIPLEXOR ; UNA SEGUNDA SECCION O SECCION DE PUNTOS DE VISIBILIDAD QUE TIENEN UNOS RECEPTORES DE ENTRADA DE CARGA A LA UNIDAD DE LINEAS DE ENTRADA DE DATOS DE VISIBILIDAD, UN SEÑALIZADOR DE PUNTO DE VISIBILIDAD CON UNAS ENTRADAS DE (VPLOAD) Y DE VPCLK Y UNA SALIDA VPSD , UN CODIFICADOR/MULTIPLEXOR.

UN METODO DE VERIFICAR LA CORRECTA TEMPORIZACION EN UN SUBSISTEMA DE PRESENTACION POR TUBO DE RAYOS CATODICOS.

(16/04/1986). Solicitante/s: HONEYWELL INFORMATION SYSTEMS INC..

VERIFICADOR DEL BUEN FUNCIONAMIENTO DE UN SISTEMA DE VISUALIZACION DE TUBO DE RAYOS CATODICOS. CONSTA DE: UNA CPU ; UN MICROPROCESADOR ; UNA MEMORIA ROM, DE SOLO LECTURA ; CUATRO MEMORIAS RAM, DE ACCESO ALEATORIO (4-6, 20-2, 20-4 Y 20-6); UN CANAL O LINEA PRINCIPAL DE DATOS ; UN CANAL SECUNDARIO ; UNA MEMORIA PRINCIPAL; UN REGISTRO DE INTERCAMBIO DE CANALES ; UN CONTROLADOR DE TUBO DE RAYOS CATODICOS ; UNA UNIDAD LOGICA DE SOPORTE DE VIDEO ; UN TUBO DE RAYOS CATODICOS ; TRES UNIDADES DE CONTROL DE TRANSMISION Y RECEPCION UNIVERSALES Y ASINCRONAS; UN TECLADO ; UNA IMPRESORA ; UNA UNIDAD DE CONTROL DE DISQUETTES . SIENDO: CPU, UNIDAD DE TRATAMIENTO CENTRAL.

ELEMENTO DE SELECCION CICLICA CON ELEMENTO DE PRUEBA INCORPORADO PARA CIRCUITOS LOCALES QUE LO UTILIZAN.

(01/11/1985). Solicitante/s: STANDARD ELECTRICA, S.A..

ELEMENTO DE SELECCION CICLICA CON ELEMENTO DE PRUEBA INCORPORADO PARA CIRCUITOS LOCALES. INCLUYE: UN PRIMERO (SINV11) Y SEGUNDO ELEMENTOS LOGICOS CAPACES DE RECIBIR POR LO MENOS DOS ESTADOS LOGICOS DE ENTRADA DIFERENTES Y DOS DE SALIDA TAMBIEN DIFERENTES; Y UN CONTROL (ST16, TT16) PARA INTERCONECTAR DICHOS ELEMENTOS LOICOS DE MANERA QUE CUANDO UNO DE ELLOS RECIBE UN ESTADO LOGICO DE ENTRADA PREDETERMINADO, SUS ESTADOS LOGICOS DE SLAIDA SE TRANSFORMAN EN UNA FUNCION PREDETERMINADA DEL ESTADO LOGICO DE SALIDA DEL OTRO ELEMENTO LOGICO.

PERFECCIONAMIENTOS EN UN GENERADOR DIGITAL DE PALABRAS.

(16/10/1985). Solicitante/s: INSTRUMENTATION ENGINEERING INC.

GENERADOR DE PALABRAS DIGITALES CONOCIDO COMO MODULO ELECTRONICO DE PINES DIGITALES EL CUAL REDUCE AL MINIMO EL PAPEL DE UN ORDENADOR HOSPEDANTE EN UN SISTEMA DE PRUEBAS DE DIAGNOSTICO AUTOMATICO EN LAS PRUEBAS DE CIRCUITOS DIGITALES COMPLEJOS. CONSTA DE UN ORDENADOR HOSPEDANTE DE ALTO NIVEL QUE EN FUNCION DEL TIPO DEL POSIBLE APARATO SOMETIDO A PRUEBA ELIGE UNO O MAS DE LOS INSTRUMENTOS DE ESTIMULOS-MEDICION PARA ESTIMULAR EL APARATO SOMETIDO A PRUEBA; DE UN ADAPTADOR DE PRUEBAS DE INTERFASE QUE CONECTA EL APARATO SOMETIDO A PRUEBA AL CONJUNTO ANALIZADOR; DE UN MODULO ELECTRONICO DE PINES DIGITALES.

PROCEDIMIENTO PARA FACILITAR LA DETECCION DE AVERIAS EN SISTEMAS BASADOS EN MICROPROCESADORES.

(01/03/1985). Solicitante/s: MARES MARTI,ALBERTO.

PROCEDIMIENTO PARA FACILITAR LA DETECCION DE AVERIAS EN SISTEMAS BASADOS EN MICROPROCESADORES.CONSISTE EN PARALIZAR TEMPORAL Y VOLUNTARIAMENTE, EN LA PLACA DEL SISTEMA MICROPROCESADOR A REPARAR, LAS SEN/ALES DIGITALES QUE SE GENERAN EN UN PROCESO DE LECTURA O ESCRITURA CUALQUIERA, ESCOGIDO DEL PROPIO MICROPROCESADOR DEL SISTEMA EN QUE ESTA UBICADO, REALIZANDOSE LA PARALIZACION TEMPORAL MEDIANTE LA INTERCALACION TEMPORAL DE UNA SONDA INTELIGENTE DE LOCALIZACION DE AVERIAS, LA CUAL SE CONECTA AL SISTEMA ELECTRONICO A REPARAR. SE DISPONE ENTRE EL SISTEMA Y EL MICROPROCESADOR DEL MISMO, PARA QUE ELIMINE TEMPORALMENTE Y SUSTITUYA AUTOMATICAMENTE, A MODO DE CONMUTADOR, EL MICROPROCESADOR, Y ASI LOGRAR LA LECTURA, CAPTACION Y VERIFICACION DE LAS SEN/ALES A TRAVES DE SIMPLES OSCILOSCOPIOS O POLIMEROS DE MEDIDA CONECTADOS A LA SONDA INTELIGENTE.

"CIRCUITO DE CONTROL AISLADO FISICAMENTE Y QUE PUEDE SER VERIFICADO".

(01/01/1985). Solicitante/s: GENERAL ELECTRIC COMPANY.

CIRCUITO DE CONTROL AISLADO FISICAMENTE Y QUE PUEDE SER VERIFICADO.COMPRENDE UNA PRIMERA UNIDAD , UNA SEGUNDA UNIDAD , Y UN ACOPLADOR OPTICO PARA ACOPLAR LAS UNIDADES Y . LA PARTE FUNCIONAL (10A) INCLUYE UNA TERMINAL DE ENTRADA Y UN OSCILADOR PARA CONTROLAR UN PRIMER TRANSMISOR DEL QUE PROCEDEN UNAS SEN/ALES QUE SON RECIBIDAS POR UN RECEPTOR SITUADO EN LA UNIDAD PARA CONTROLAR EL RELE . CADA UNIDAD Y INCLUYE UNA PARTE DE COMPROBACION (10B, 40B) PARA SUPERVISAR LAS PARTES FUNCIONALES. LA PARTE (40B) DETECTA EL ESTADO DEL RECEPTOR Y DEL RELE Y TRANSMITE LA INFORMACION A UN RECEPTOR QUE CONTROLA LOS TERMINALES DE ENTRADA Y Y ESTA SITUADO EN LA UNIDAD.

UN SISTEMA DE PRUEBAS DIGITAL.

(16/06/1984). Solicitante/s: STANDARD ELECTRICA, S.A..

SISTEMA DE PRUEBAS DIGITAL PARA CIRCUITOS ELECTRONICOS, EN CONCRETO, SISTEMA DE PRUEBAS DIGITAL PARA PROBAR CIRCUITOS ANALOGICOS Y DIGITALES, EL CUAL UTILIZA TECNICAS DE PROCESAMIENTO DE SEN/AL DIGITALES.CONSTA DE UN PROCESADOR DE SEN/AL DIGITAL DE ALTA VELOCIDAD ; DE UNA FUENTE DE ALIMENTACION FIJA ; DE UNA FUENTE DE ALIMENTACION PROGRAMABLE ; DE UN PUESTO DE PRUEBA ; DE UN INTERFAZ DE OPERADOR QUE INCLUYE UN IMPRESOR Y UN TERMINAL DE VIDEO COMUNICADO CON EL COMPUTADOR PRINCIPAL Y CON EL PROCESADOR ; Y DE UNA CIRCUITERIA DIVERSA PARA CONEXIONES.

METODO PARA COMPROBAR UN CIRCUITO ELECTRICO.

(16/05/1984). Solicitante/s: WESTINGHOUSE ELECTRIC CORPORATION.

PROCEDIMIENTO DE COMPROBACION DE UN CIRCUITO ELECTRICO.COMPRENDE LAS SIGUIENTES OPERACIONES: EFECTUAR EL MUESTREO DE UNA SEÑAL CONOCIDA EN UN CIRCUITO CONOCIDO PARA GENERAR NUMEROS DIGITALES; ALMACENAR DICHOS NUMEROS DIGITALES PARA GENERAR UNA BASE DE DATOS DE REFERENCIA; EFECTUAR EL MUESTREO DE UN CIRCUITO QUE HA DE SER COMPROBADO PARA GENERAR UN SEGUNDO GRUPO DE NUMEROS DIGITALES; ALMACENAR DICHOS SEGUNDOS NUMEROS DIGITALES PARA GENERAR UNA SEGUNDA BASE DE DATOS; Y COMPARAR AMBAS BASES DE DATOS. EL PROCEDIMIENTO UTILIZA EL TRATAMIENTO DE TRANSFORMADAS DE WALSH.

MEJORAS EN SISTEMAS DE ANALISIS Y ENSAYO DE CIRCUITOS ELECTRICOS Y ELECTRONICOS.

(01/05/1983). Solicitante/s: MARTINEZ GARCIA,SALVADOR.

DISPOSICION MODULAR PARA SISTEMA DE ANALISIS DE CIRCUITOS. CONSTITUIDO POR UN BASTIDOR SOPORTE AL QUE SE FIJAN MECANICAMENTE UNO O VARIOS MODULOS INTERCAMBIABLES, QUE LLEVAN CIRCUITOS. CADA MODULO TIENE EN SU CARA FRONTAL ZOCALOS PARA LA INSERCION DE COMPONENTES, DIRECTAMENTE O MEDIANTE CLAVIJAS APROPIADAS, ASI COMO HEMBRILLAS TERMINALES DE LOS ELEMENTOS CONEXIONADOS EN LA PARTE POSTERIOR DEL MISMO Y, EVENTUALMENTE, INTERRUPTORES E INSTRUMENTOS DE MEDIDA.

SONDA MULTIPLE PARA PRUEBAS EN CIRCUITO IMPRESO.

(16/02/1983). Solicitante/s: FLORES GOMEZ,JOSE.

SONDA MULTIPLE PARA PRUEBAS EN CIRCUITOS IMPRESOS.SE SUJETA EL CIRCUITO MEDIANTE UN SOPORTE (M), APOYANDOSE SOBRE EL EN LA CARA DE PISTAS Y SOLDADURAS, UN CONJUNTO DE SONDAS (G) QUE SE DESLIZAN DENTRO DE ORIFICIOS DE SUS MISMA SECCION HECHOS EN UN SOPORTE ADECUADO (I). SE HACEN LOS ORIFICIOS EN EL SOPORTE DE FORMA QUE LAS SONDAS, AL ESTAR EN ELLOS, APUNTAN HACIA LAS ZONAS DEL CIRCUITO IMPRESO EN LAS QUE SE DEBEN HACER LOS CONTACTOS. SITUADAS ASI, LAS SONDAS SON EMPUJADAS CONTRAS LAS PISTAS PARA HACER CONEXION CON MECANISMOS ADECUADOS, TALES COMOLOS MUELLES (H).

DISPOSITIVO AUTOMATICO DE COMPROBACION PARA SUMINISTRAR SEÑALES DE COMPROBACION.

(01/02/1983). Solicitante/s: WESTINGHOUSE ELECTRIC CORPORATION.

SISTEMA AUTOMATICO DE COMPROBACION. INCLUYE UN PROCESADOR NUMERICO CENTRAL PROGRAMABLE DE APLICACION GENERAL, CAPAZ DE ACEPTAR PROGRAMAS EN UN LENGUAJE DE NIVEL ELEVADO, Y ESPECIFICANDO EL PROGRAMA LA COMPROBACION QUE HA DE SER REALIZADO. UNA PLURALIDAD DE APARATOS DE COMPROBACION INTERCAMBIABLES, QUE INCLUYEN CADA UNO UN PROCESADOR DE INTERFAZ PROGRAMABLE Y UN INSTRUMENTO DE COMPROBACION, ESTAN CONECTADOS CON EL PROCESADOR NUMERICO CENTRAL POR MEDIO DE UNA VIA DE DATOS.

SISTEMA DE SUPERVISION Y PROTECCION DE SOBREVELOCIDAD DE ROTACION PARA TURBINA DE VAPOR.

(16/08/1982). Solicitante/s: GENERAL ELECTRIC COMPANY.

DISPOSITIVO DE DETECCION Y PROTECCION DE SOBREVELOCIDAD EN TURBINAS DE VAPOR. UNOS CANALES REDUNDANTES DE DETECCION DE SOBREVELOCIDAD PROPORCIONAN SEÑALES DE ACCIONAMIENTO MEDIANTE SENSORES MAGNETICOS ACOPLADOS AL EJE DEL ROTOR DE LA TURBINA, CONVERTIDORES DE FRECUENCIA Y COMPARADORES DE TENSION. LAS SEÑALES ACTIVAN UN CIRCUITO DE ELEMENTOS DE CONMUTACION, QUE LAS DESVIA A SU VEZ HACIA UNOS CIRCUITOS MONITORES A TRAVES DE CIRCUITOS EN DERIVACION. LOS CIRCUITOS MONITORES ESTAN CONSTITUIDOS POR ELEMENTOS DE DETECCION DE LA CORRIENTE DERIVADA Y ELEMENTOS DE RESPUESTA. LOS ELEMENTOS DE DETECCION SON RESISTENCIAS Y TRANSISTORES.

PASTILLA DE CIRCUITO INTEGRADO.

(16/01/1982). Solicitante/s: SPERRY CORPORATION.

PASTILLA DE CIRCUITO INTEGRADO CON DISPOSITIVO DETECTOR DE AVERIAS. COMPRENDE UNA RED LIGICA A LA QUE VAN UNIDOS LOS CIRCUITOS DETECTORES DE AVERIA . LAS SALIDAS DE DICHOS DETECTORES SE CONDUCEN A UN GENERADOR DE ESTADO DE ERROR , DONDE SE CODIFICAN PARA ENVIAR SEÑALES DE ERROR POR EL GRUPO DE LINEAS . EL DISPOSITIVO GENERA SEÑALES DE CONTROL PARA QUE LOS GENERADORES DE ESTIMULOS PRODUZCAN UNA CONFIGURACION DE SEÑALES DE PRUEBA QUE SE APLICAN EN PUNTOS INTERMEDIOS DE LA CADENA DE PROCESO DE DATOS. DICHAS SEÑALES SE DEVUELVEN, POR MEDIO DE LINEAS , AL SUPERVISOR DE GENERADORES , CONTROLADO POR EL CIRUCUITO (21A).

SISTEMA MODULAR,VARIABLE Y AMPLIABLE,PARA EL DISEÑO,EXPERIMENTACION Y SOPORTE DE CIRCUITOS ELECTRICOS Y ELECTRONICOS.

(01/11/1980). Solicitante/s: IBAÑEZ FUENTES,JORGE.

SISTEMA MODULAR, VARIABLE Y AMPLIABLE, PARA EL DISEÑO, EXPERIMENTACION Y SOPORTE DE CICUITOS ELECTRICOS Y ELECTRONICOS. CONSTA DE UN APARATO BASE, CONSTITUIDO CON MATERIAL, FORMA Y DIMENSIONES VARIABLES, QUE SOPORTA EXTERNAMENTE ELEMENTOS MODULARES DE FORMA, DIMENSIONES, MATERIAL Y UTILIDAD VARIABLES, PERMITIENDO LA INTERCONEXION FISICA Y ELECTRICA CON O SIN CABLES DE EXTENSION.

UN DISPOSITIVO DE MEMORIA DE SEMICONDUCTOR PARA CALCULADORA ELECTRONICA.

(16/12/1976). Solicitante/s: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED.

Resumen no disponible.

PROCEDIMIENTO DE AUTOCOMPROBACION PARA EQUIPOS DIGITALES DE PRUEBAS CONTROLADOS POR ORDENADOR.

(01/07/1976). Solicitante/s: STANDARD ELECTRICA, S.A..

Resumen no disponible.

PERFECCIONAMIENTOS EN APARATOS GENERADORES Y RECEPTORES DE PALABRAS DIGITALES.

(16/04/1976). Solicitante/s: INSTRUMENTATION ENGINEERING INC.

Resumen no disponible.

UN DISPOSITIVO COMPROBADOR PARA COMPROBAR EL FUNCIONAMIENTO DE UN CIRCUITO LOGICO CONECTADO PARA REALIZAR UNA FUNCION LOGICA PREDETERMINADA.

(01/01/1976). Solicitante/s: WESTINGHOUSE ELECTRIC CORPORATION.

Resumen no disponible.

PERFECCIONAMIENTOS EN SISTEMAS PARA PROBAR AUTOMATICAMENTE UNIDADES QUE TIENEN CIRCUITOS ELECTRICOS.

(01/05/1975). Solicitante/s: INSTRUMENTATION ENGINEERING INC.

Resumen no disponible.

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