Método y aparato para medir ópticamente por interferometría el espesor de un objeto.
(23/04/2014) Método para medir ópticamente por interferometría el espesor (T) de un objeto ; incluyendo el método las etapas de: llevar a cabo por interferometría óptica una pluralidad de lecturas del espesor (T) del objeto para obtener por lo menos un valor de espesor aproximado (RTW) de cada lectura y, en consecuencia, una pluralidad de valores de espesor aproximados (RTW); y determinar el valor real del espesor (T) del objeto mediante el análisis de la pluralidad de valores de espesor aproximados (RTW); estando el método caracterizado por que este incluye las etapas de: definir un intervalo de variabilidad de los valores de espesor aproximados (RTW) que es lo bastante amplio para comprender por lo menos una parte significativa de los valores de espesor…