CIP-2021 : G01R 31/00 : Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos;
Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
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Notas[n] de G01R 31/00:
G01R 31/01 · Ensayo sucesivo de artículos similares, p. ej. ensayos "go/no-go" en una producción en serie; Ensayo de objetos en ciertos puntos mientras pasan a través de una estación de ensayos (ensayo de cables continuos mientras pasan por aparatos de ensayo G01R 31/59; ensayo de la rigidez dieléctrica o la tensión de ruptura G01R 31/12).
G01R 31/08 · Localización de defectos en los cables, líneas de transmisión o redes.
G01R 31/10 · · aumentado la destrucción en el lugar del fallo, p. ej. combustión por medio de un generador de impulsos que aplican un programa especial.
G01R 31/11 · · utilizando métodos de reflexión de la impulsión.
G01R 31/12 · Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
G01R 31/14 · · Circuitos para este efecto.
G01R 31/16 · · Construcción de recipientes de ensayo; Electrodos para tales recipientes.
G01R 31/18 · · Sometiendo a ensayo artículos similares de uno en uno, p. ej. ensayos de control ("go/no-go") en una producción en serie.
G01R 31/20 · · Preparación de artículos o muestras para facilitar el ensayo.
G01R 31/24 · Ensayo de tubos de descarga (durante la fabricación H01J 9/42).
G01R 31/25 · · Ensayo de tubos de vacío.
G01R 31/26 · Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
G01R 31/265 · · Ensayos sin contactos.
G01R 31/27 · · Ensayos de dispositivos sin extraerlos físicamente del circuito del que forman parte, p. ej. compensación de efectos debidos a los elementos circundantes.
G01R 31/28 · Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
G01R 31/30 · · Ensayos marginales, p. ej. haciendo variar la tensión de alimentación (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
G01R 31/302 · · Ensayos sin contacto.
G01R 31/303 · · · de circuitos integrados (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad).
G01R 31/304 · · · de circuitos impresos o híbridos (G01R 31/305 - G01R 31/315 tienen prioridad).
G01R 31/305 · · · utilizando haces electrónicos.
G01R 31/306 · · · · de circuitos impresos o híbridos.
G01R 31/307 · · · · de circuitos integrados.
G01R 31/308 · · · utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.
G01R 31/309 · · · · de circuitos impresos o híbridos.
G01R 31/311 · · · · de circuitos integrados.
G01R 31/312 · · · por métodos capacitivos.
G01R 31/315 · · · por métodos inductivos.
G01R 31/316 · · Ensayos de circuitos analógicos.
G01R 31/3161 · · · Ensayos marginales.
G01R 31/3163 · · · Ensayos funcionales.
G01R 31/3167 · · Ensayos de circuitos analógicos y digitales combinados.
G01R 31/317 · · Ensayo de circuitos digitales.
G01R 31/3173 · · · Ensayos marginales.
G01R 31/3177 · · · Ensayo del funcionamiento lógico, p. ej. por medio de analizadores lógicos.
G01R 31/3181 · · · Ensayos funcionales (G01R 31/3177 tiene prioridad).
G01R 31/3183 · · · · Generación de señales de entrada de prueba, p. ej. vectores, formas o secuencias de ensayo.
G01R 31/3185 · · · · Reconfiguración para los ensayos, p. ej. LSSD, divisiones.
G01R 31/3187 · · · · Ensayos integrados.
G01R 31/319 · · · · Hardware de pruebas, es decir, circuitos de tratamiento de señales de salida.
G01R 31/3193 · · · · · con una comparación entre la respuesta real y la respuesta conocida en ausencia de error.
G01R 31/327 · Ensayo de interruptores de circuito, de interruptores o de disyuntores.
G01R 31/333 · · Ensayo de la capacidad de corte de los disyuntores de alta tensión.
G01R 31/34 · Ensayo de máquinas dinamoeléctricas.
G01R 31/36 · Dispositivos para el ensayo, medida o monitorización del estado eléctrico de acumuladores o baterías, p. ej. de la capacidad o del estado de la carga [SoC].
G01R 31/364 · · Conectores terminales de baterías con dispositivos de medida integrados.
G01R 31/367 · · Su software, p. ej. para ensayo de baterias usando modelización o tablas de consulta.
G01R 31/371 · · con señalización remota, p. ej. sobre cargadores externos.
G01R 31/374 · · con medios para corregir la medida de la temperatura o del envejecimiento.
G01R 31/378 · · especialmente adaptados para el tipo de batería o acumulador.
G01R 31/379 · · · para baterías de plomo y ácido.
G01R 31/382 · · Dispositivos para monitorizar las variables de la bateria o del acumulador, p. ej. SoC.
G01R 31/3828 · · · usando la integración de la corriente.
G01R 31/3832 · · · · sin medición del voltaje de la batería.
G01R 31/3835 · · · implicando únicamente medidas de voltaje.
G01R 31/3842 · · · combinando las medidas de voltaje y de corriente.
G01R 31/385 · · Dispositivos para medir las variables de la batería o del acumulador (para monitorización G01R 31/382).
G01R 31/387 · · · Determinando la capacidad de carga en amperios-hora o SoC.
G01R 31/388 · · · · implicando medidas de voltaje.
G01R 31/389 · · Medición de la impedancia interna, la conductancia interna o variables relacionadas.
G01R 31/392 · · Determinación del envejecimiento o deterioro de la batería, p. ej. el estado de salud.
G01R 31/396 · · Adquisición o procesamiento de datos para ensayo y para monitorización de celdas individuales o grupos de celdas en una batería.
G01R 31/40 · Ensayo de fuentes de alimentación (ensayos de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
G01R 31/42 · · de alimentación de corriente alterna.
G01R 31/44 · Ensayo de lámparas.
G01R 31/50 · Ensayo de aparatos eléctricos, líneas, cables o componentes de cortocircuitos, continuidad, corrientes de descarga o conexiones de línea incorrectas (ensayo de bujías H01T 13/58).
G01R 31/52 · · Ensayo para cortocircuitos, corrientes de descarga o fallos en las tomas de tierra.
G01R 31/54 · · Ensayo de continuidad.
G01R 31/55 · · Ensayo de conexiones de línea incorrectas.
G01R 31/56 · · Ensayo de aparatos eléctricos (ensayo de transformadores G01R 31/62; ensayo de conexiones G01R 31/66).
G01R 31/58 · · Ensayo de líneas, cables o conductores (ensayo de bobinas eléctricas G01R 31/72).
G01R 31/59 · · · mientras el cable continuo pasa por el aparato de ensayo, p. ej. durante la fabricación.
G01R 31/60 · · · Identificación de los cables en un cable multinúcleo.
G01R 31/62 · · Ensayo de transformadores.
G01R 31/64 · · Ensayo de condensadores.
G01R 31/66 · · Ensayo de conexiones, p. ej. de enchufes o juntas no desconectables (ensayo para conexiones de línea incorrectas G01R 31/55).
G01R 31/67 · · · Ensayo de la precisión de las conexiones de cables en aparatos o circuitos eléctricos.
G01R 31/68 · · · Ensayo de conexiones que pueden desensamblarse, p. ej. de terminales montados en una placa de circuito impreso.
G01R 31/69 · · · · de terminales en el extremo de un cable o conjunto de cables; de clavijas; de enchufes, p. ej. enchufes de pared o tomas de corriente en aparatos.
G01R 31/70 · · · Ensayo de conexiones entre componentes y placas de circuito impreso (G01R 31/68 tiene prioridad).
G01R 31/71 · · · · Ensayo de juntas soldadas.
G01R 31/72 · · Ensayo de bobinas eléctricas (ensayo de transformadores G01R 31/62).
G01R 31/74 · · Ensayo de fusibles.