CIP 2015 : G01Q : TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO,

p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP].

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Notas[t] desde G01 hasta G12: INSTRUMENTOS
Notas[n] de G01Q:
  • En esta subclase se aplica la regla del primer lugar, es decir, en cada nivel jerárquico, salvo que se indique lo contrario, se clasifica en el primer lugar apropiado.

G01Q 10/00 Disposiciones para barrido o posicionamiento, es decir, disposiciones para controlar de forma activa el movimiento o posición de la sonda.

  • G01Q 10/02 Barrido o posicionamento basto. [+1 invenciones en esta categoría]
  • G01Q 10/04 Barrido o posicionamiento fino.
  • G01Q 10/06 Circuitos o algoritmos al efecto. [+2 invenciones en esta categoría]

G01Q 20/00 Monitorización del movimiento o de la posición de la sonda.

  • G01Q 20/02 por medios ópticos. [+1 invenciones en esta categoría]
  • G01Q 20/04 Sondas auto detectoras, es decir, en las que la sonda en sí misma genera una señal representativa de su posición, p. ej. galgas piezoeléctricas.

G01Q 30/00 Medios auxiliares destinados a asistir o mejorar las técnicas o aparatos de sonda de barrido, p. ej. dispositivos de visualización o de procesamiento de datos.

  • G01Q 30/02 Dispositivos de análisis de un tipo distinto al de microscopía de barrido [SPM], p. ej. microscopio electrónico de barrido [SME], espectrómetro o microscopio óptico.
  • G01Q 30/04 Dispositivos de visualización o de procesamiento de datos. [+1 invenciones en esta categoría]
  • G01Q 30/06 para compensar el error.
  • [+7 subclases].

G01Q 40/00 Calibración, p. ej. sondas.

  • G01Q 40/02 Patrones de calibración o métodos para fabricarlos. [+3 invenciones en esta categoría]

G01Q 60/00 Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido [SPM] o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto.

  • G01Q 60/02 Microscopía por sonda de barrido [SPM] que emplea dos o más técnicas distintas.
  • G01Q 60/04 STM [Microscopía de Efecto Túnel] combinada con AFM [Microscopía de Fuerza Atómica].
  • G01Q 60/06 SNOM [Microscopía Optica de Barrido en Campo Cercano] combinada con AFM [Microscopía de Fuerza Atómica].
  • [+27 subclases].

G01Q 70/00 Aspectos generales de las sondas SPM, de su fabricación o de su instrumentación relacionada, en tanto en cuanto no están adaptados a una única técnica SPM cubierta por el grupo G01Q 60/00.

  • G01Q 70/02 Soportes de sondas. [+1 invenciones en esta categoría]
  • G01Q 70/04 con compensación de los errores causados por la temperatura o las vibraciones.
  • G01Q 70/06 Conjuntos de puntas de sondas. [+1 invenciones en esta categoría]
  • [+6 subclases].

G01Q 80/00 Aplicaciones de las técnicas de sonda de barrido distintas de la SPM (fabricación o tratamiento de microestructuras B81C; fabricación o tratamiento de nanoestructuras B82B 3/00; grabación o reproducción de información empleando la interacción del campo próximo G11B 9/12, G11B 11/24  or G11B 13/08).

G01Q 90/00 Técnicas o aparatos de sonda de barrido no previstos en otro lugar.

 

Patentes más consultadas

 

Clasificación Internacional de Patentes 2015