Sistema de iluminación estereoscópica para microscopio.

Un sistema de iluminación estereoscópica para un microscopio binocular,

que comprende a lo largo de la trayectoria de luz comenzando por al menos una fuente de luz (5, 7):

la al menos una fuente de luz (5, 7) configurada para producir unos haces de luz no colimados primero, segundo y tercero;

unas lentes de condensación primera y segunda (4) configuradas para condensar los haces de luz primero y segundo, respectivamente;

unos prismas de Dove primero y segundo (1) configurados para dirigir los haces de luz primero y segundo a las lentes de colimación primera y segunda (8), respectivamente;

estando configuradas las lentes de colimación primera y segunda (8) para proporcionar unos haces de luz primero y segundo colimados de luz parcialmente paralela;

unos prismas de 90º primero y segundo (10) configurados para reflejar los haces de luz primero y segundo, respectivamente, saliendo los haces de luz primero y segundo de los prismas de 90º paralelos entre sí; y

un divisor de haces (12) configurado para reflejar parcialmente los haces de luz primero y segundo hacia una superficie objeto (16) de modo que los haces de luz primero y segundo se solapen parcialmente en la superficie objeto;

comprendiendo además el sistema de iluminación estereoscópica en este orden a lo largo de la trayectoria de luz comenzando por la al menos una fuente de luz (5, 7):

una tercera lente de condensación (4) configurada para condensar el tercer haz de luz;

una lente colectora (8a) configurada para recoger el tercer haz de luz;

un espejo (9) configurado para reflejar el tercer haz de luz hacia la superficie objeto (16) desplazado con un ángulo oblicuo con respecto al eje de los dos haces de luz colimados.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2009/062155.

Solicitante: ALCON, INC.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: Rue Louis-d'Affry 6 1701 Fribourg SUIZA.

Inventor/es: BUTLER,JONATHAN MICHAEL, HEWLETT,ROBERT TROY, HEWLETT,ROBERT JEFFREY, HEWLETT,ROBERT MCCOY.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B21/08 SECCION G — FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › Condensadores.
  • G02B21/22 G02B 21/00 […] › Distribuciones estereoscópicas.

PDF original: ES-2763147_T3.pdf

 

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