Reflectometría óptica espectralmente eficiente en el dominio de la frecuencia usando detección I/Q.

Un sistema (20) de reflectometría de fibra óptica, comprendiendo el sistema:



una fuente óptica (40), que está configurada para generar una señal de interrogación óptica que se transmite por una fibra óptica (24);

un módulo de detección de pulsos, que está configurado para recibir de la fibra óptica (24) una señal de retrodispersión óptica en respuesta a la señal de interrogación óptica, y para mezclar la señal de retrodispersión óptica con una réplica de referencia de la señal de interrogación óptica usando mezclado en-fase/cuadratura (I/Q), con el fin de producir una señal de pulso compleja que tiene componentes en-fase (I) y en cuadratura (Q); y

un procesador (36), que está configurado para detectar uno o más eventos que afectan la fibra óptica mediante el análisis de los componentes I y Q de la señal de pulso compleja, caracterizado porque: el procesador está configurado para analizar la señal de pulso compleja definiendo en la señal de pulso compleja al menos:

un primer intervalo de tiempo, durante el cual se garantiza que una frecuencia instantánea de la señal de retrodispersión óptica sea menor que la frecuencia instantánea de la réplica de referencia; y

un segundo intervalo de tiempo, durante el cual se garantiza que la frecuencia instantánea de la señal de retrodispersión óptica sea mayor que la frecuencia instantánea de la réplica de referencia.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2015/058819.

Solicitante: Dsit Solutions Ltd.

Nacionalidad solicitante: Israel.

Dirección: 2 Rehavam Zeevi Street 5401777 Givat Shmuel ISRAEL.

Inventor/es: EYAL,AVISHAY, GABAI,HANIEL, BOTSEV,YAKOV, HAHAMI,MEIR.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B9/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00).
  • H04B10/071 SECCION H — ELECTRICIDAD.H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS.H04B TRANSMISION.H04B 10/00 Sistemas de transmisión que utilizan haces de radiación electromagnéticas u otro tipo de ondas, p. ej. la luz, los infrarrojos, ultravioletas o radiación corpuscular, p. ej. comunicación cuántica. › utilizando una señal reflejada, p. ej.: utilizando reflectómetros ópticas en el dominio de tiempo [OTDR].

PDF original: ES-2757811_T3.pdf

 

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