Procedimiento y dispositivo para la alineación de un sistema de obtención de imágenes ópticas.
Procedimiento para la alineación de un sistema de obtención de imágenes ópticas,
que comprende:
- definir un eje de alineación utilizando al menos un primer elemento de diafragma, en el que el eje de alineación conecta una abertura del primer elemento de diafragma a un objetivo ubicado a una distancia detrás del primer elemento de diafragma,
- alinear el sistema de obtención de imágenes ópticas con respecto al eje de alineación hasta que la radiación de un haz emitido a lo largo del eje de alineación sobre el sistema de obtención de imágenes después de pasar a través del sistema de obtención de imágenes incide en el objetivo a través de la abertura del primer elemento de diafragma,
- realizar una primera detección de sensor de radiación con respecto a la radiación del haz al menos en la región de la abertura del primer elemento de diafragma,
- proporcionar señales de sensor generadas durante la detección de radiación para una unidad de procesamiento de señales.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14003721.
Solicitante: WAVELIGHT GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: AM WOLFSMANTEL 5 91058 ERLANGEN ALEMANIA.
Inventor/es: SCHMID,STEFAN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la longitud, la anchura o el espesor (G01B 11/08 tiene prioridad).
- G01B21/00 G01B […] › Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase.
- G01B9/00 G01B […] › Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00).
PDF original: ES-2677486_T3.pdf
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