Dispositivo reflector de señal para prueba mediante realimentación óptica.

Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites (100) para probar dispositivos de emisión (300) que emiten señales ópticas (310),

presentando el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites: una placa (105) que está realizada al menos parcialmente transparente a las señales ópticas; en el que la placa presenta un cuerpo base (110), una primera superficie (120) y una segunda superficie (130); en el que la primera superficie (120) presenta un recubrimiento reflectante residual (121); en el que el recubrimiento reflectante residual está realizado para dividir un haz óptico (210), que atraviesa la placa en una primera dirección (205) desde la primera superficie a la segunda superficie, en un haz óptico reflejado (220) y un haz óptico transmitido (230); en el que la placa está realizada para dispersar el haz óptico transmitido cuando este sale del cuerpo base.

Dispositivo reflector de señal para prueba mediante realimentación óptica.

Campo de la invención La presente invención se refiere a dispositivos para una prueba mediante realimentación de señal óptica. En particular, la invención se refiere a un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites para probar dispositivos de emisión que emiten señales ópticas, una disposición de emisión y recepción para la transmisión de señales ópticas, así como un satélite.

Antecedentes técnicos de la Invención Aparatos ópticos activos, es decir que emiten radiación óptica, y aparatos ópticos pasivos, es decir que reciben radiación óptica, pueden ser empleados para la transmisión de señales ópticas y datos. Habitualmente, en particular los aparatos ópticos activos son sometidos en intervalos de tiempo fijos o variables definidos a una prueba que examina la transmisión de señal. Esta prueba puede ser realizada a través de un entorno óptico de prueba adecuado. En particular el entorno de prueba puede simular el caso de aplicación del aparato óptico.

En un sistema de comunicación óptica el caso de aplicación de un aparato es por ejemplo la simulación del lugar remoto óptico por un sistema de prueba adecuado. En el marco de tal prueba o de una secuencia de tales pruebas pueden emplearse dispositivos que generan señales de prueba especiales y con ello realizar mediciones adecuadas en el aparato a ser probado. La complejidad creciente de los aparatos ópticos puede elevar, por ejemplo, la necesidad de tales pruebas y los requisitos de los sistemas de prueba.

Para reducir el coste de tales pruebas pueden ser dispuestos dispositivos de prueba internos en aparatos ópticos, de manera que el aparato sea puesto en la posición de realizar automáticamente una secuencia de pruebas.

Un dispositivo reflector de señal para probar señales ópticas según el estado de la técnica es conocido por el documento US-A-20080258040.

Puede considerarse un objeto de la invención indicar un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites que posibilite una alta atenuación de la potencia de la señal de prueba óptica y al mismo tiempo reduzca una potencia de pérdida térmica, ligada típicamente a esta atenuación, o una alimentación de energía térmica en el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites.

Se indican un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites, una disposición de emisión y recepción y un satélite según las características de las reivindicaciones independientes. Perfeccionamientos de la invención resultan de las reivindicaciones dependientes y de la siguiente descripción.

Según un primer aspecto de la invención se indica un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites para probar dispositivos de emisión que emiten señales ópticas, en el que el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites presenta una placa que está realizada al menos parcialmente transparente para señales ópticas. La placa presenta asimismo un cuerpo base, una primera superficie y una segunda superficie, presentando la primera superficie un recubrimiento reflectante residual. El recubrimiento reflectante residual está realizado para dividir un haz óptico, que atraviesa la placa en una primera dirección desde la primera superficie a la segunda superficie, en un haz óptico reflejado y un haz óptico transmitido, de modo que la placa está realizada para dispersar el haz óptico transmitido cuando este sale del cuerpo base.

El dispositivo reflector de señal de prueba en satélites puede estar realizado en particular para su uso en vacío o en el espacio.

En cuanto a la placa puede tratarse por ejemplo de una placa de vidrio o de una placa de otro tipo al menos parcialmente transparente para señales ópticas o luz. La placa está realizada para de la potencia óptica de una señal óptica incidente dejar pasar o transmitir únicamente una porción, de modo que otra parte de la potencia óptica de una señal óptica incidente pueda ser por ejemplo reflejada.

La primera superficie y la segunda superficie pueden estar dispuestas en el cuerpo base de la placa, de manera que la primera superficie se oponga a la segunda superficie. El recubrimiento reflectante residual, que está dispuesto en la primera superficie, está realizado para reflejar una parte de la potencia óptica de una señal óptica que incide sobre el recubrimiento reflectante residual. La porción no reflejada de la potencia óptica de la señal óptica pasa a través del recubrimiento reflectante residual y a través del cuerpo base de la placa.

Con ello, el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites es adecuado para probar dispositivos de emisión en un espacio estrecho, por ejemplo dispositivos de emisión en satélites, que habitualmente están previstos para la transmisión de datos y para la comunicación de datos con un lugar remoto en la superficie de tierra.

Por el recubrimiento reflectante residual de la primera superficie de la placa está asegurado que la señal óptica emitida por el dispositivo de emisión que emite llega con una potencia óptica reducida a un dispositivo de recepción, pudiendo estar dispuestos el dispositivo de emisión, el dispositivo de recepción y el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites a una distancia de algunos metros, por ejemplo menos de 10 o 20 metros o en el orden de magnitud de algunos centímetros, por ejemplo menos de 50 cm o en particular 10 cm, a bordo de un satélite. Una reflexión total o reflexión casi total de la señal óptica emitida por el dispositivo de emisión al dispositivo de recepción podría dañar o destruir el dispositivo de recepción, ya que el dispositivo de recepción debido a la gran distancia de un satélite respecto a la superficie de la tierra está realizado para la recepción de señales ópticas con esencialmente menor potencia óptica que la potencia con la que son emitidas las señales ópticas por el dispositivo de emisión.

La segunda superficie de la placa realizada dispersora de la luz se ocupa de que la luz o la señal óptica que pasa por la placa sea dispersada. Esto significa que el ángulo de incidencia del haz óptico trasmitido no corresponde al ángulo de reflexión con respecto a la segunda superficie, sino que la luz en un semiespacio completo es distribuida o dispersada a una de las dos caras de la segunda superficie. En cuanto al semiespacio se trata de un espacio a un lado del plano que es definido por la placa. Por tanto, este plano divide al espacio completo en dos semiespacios. La segunda superficie puede dispersar una parte de la luz o de los haces ópticos y transmitir otra parte.

Por esta dispersión del haz óptico transmitido por la segunda superficie realizada dispersora de luz puede garantizarse que de la potencia óptica de la señal óptica emitida por el dispositivo de emisión llega al dispositivo de recepción una señal óptica reflejada fuertemente atenuada. Del haz óptico transmitido, que es dispersado por la segunda superficie, puede llegar al dispositivo de recepción una señal que con respecto a la señal óptica emitida por el dispositivo de emisión está atenuada por ejemplo en 90 dB o más.

La señal óptica reflejada por el recubrimiento reflectante residual sobre la primera superficie puede ser atenuada con respecto a la potencia óptica de la señal óptica emitida por el dispositivo de emisión, por ejemplo en 30 dB. Debido a la gran diferencia en el nivel de atenuación del haz óptico transmitido, así como de la luz externa o parásita y el nivel de atenuación del haz óptico reflejado, en los niveles de atenuación mencionados a modo de ejemplo este es de 60 dB, se tiene una relación señal-ruido suficiente, de modo que el haz óptico reflejado, es decir la señal útil, puede diferenciarse de de la luz dispersada, es decir de la señal de ruido.

La luz externa o parásita que incide sobre la placa, por ejemplo del sol o de otras fuentes de luz, también es dispersada por la segunda superficie, por lo que esto conduce solo a una entrada de calor de poca importancia en el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites.

En cuanto al haz óptico puede tratarse en general de ondas electromagnéticas en el rango visible, en el rango infrarrojo o en el rango ultravioleta.

De acuerdo con una forma de realización de la invención, la segunda superficie de la placa está realizada ópticamente dispersora.

Esto posibilita que la radiación óptica transmitida a través de la placa sea dispersada por la segunda superficie. Por tanto, la segunda superficie, en particular en el caso de una señal óptica de alta energía enfocada, como por ejemplo en un rayo... [Seguir leyendo]

1. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites (100) para probar dispositivos de emisión (300) que emiten señales ópticas (310) , presentando el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites: una placa (105) que está realizada al menos parcialmente transparente a las señales ópticas; en el que la placa presenta un cuerpo base (110) , una primera superficie (120) y una segunda superficie (130) ; en el que la primera superficie (120) presenta un recubrimiento reflectante residual (121) ; en el que el recubrimiento reflectante residual está realizado para dividir un haz óptico (210) , que atraviesa la placa en una primera dirección (205) desde la primera superficie a la segunda superficie, en un haz óptico reflejado (220) y un haz óptico transmitido (230) ; en el que la placa está realizada para dispersar el haz óptico transmitido cuando este sale del cuerpo base.

2. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según la reivindicación 1, en el que la segunda superficie

(130) está realizada para dispersar la luz.

3. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según una de las reivindicaciones anteriores, en el que el cuerpo base de la placa está realizado ópticamente dispersor.

4. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según una de las reivindicaciones anteriores, en el que la placa presenta un recubrimiento ópticamente dispersor (122) .

5. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según la reivindicación 4, en el que el recubrimiento ópticamente dispersor está dispuesto entre el recubrimiento reflectante residual y el cuerpo base.

6. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según una de las reivindicaciones anteriores, en el que el recubrimiento reflectante residual está realizado para reflejar menos del 10 por mil, en particular menos del 5 por mil, en particular menos del 2 por mil, en particular 1 +/-0, 5 por mil de una potencia óptica del haz óptico.

7. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según una de las reivindicaciones anteriores, que comprende además: un blindaje (150) con una superficie interior (151) , en el que el blindaje está dispuesto de manera que la superficie interior está situada opuesta a la segunda superficie de la placa; en el que la superficie interior está realizada reflectante, al menos en una zona parcial, de modo que el haz óptico dispersado que abandona la placa es reflejado de vuelta a la placa.

8. Dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según la reivindicación 7, en el que la superficie interior del blindaje está realizada ópticamente dispersora al menos en una zona parcial.

9. Disposición de emisión y recepción (400) para la transmisión de señales ópticas, comprendiendo la disposición de emisión y recepción: una unidad de emisión (300) ; una unidad de recepción (320) ; un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites según una de las reivindicaciones 1 a 8; y un acoplamiento mecánico (410) que está realizado para acoplar mecánicamente entre sí la unidad de emisión, la unidad de recepción y el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites; en el que el acoplamiento mecánico está realizado para posicionar el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites con respecto a la unidad de emisión y a la unidad de recepción en una posición de prueba, de tal manera que una señal óptica emitida desde la unidad de emisión sea reflejada por el recubrimiento reflectante residual en la dirección de la unidad de recepción.

10. Disposición de emisión y recepción según la reivindicación 9, en el que la unidad de emisión está realizada para emitir una señal de prueba óptica en la posición de prueba del dispositivo reflector de señal de prueba en satélites; en el que la unidad de recepción está realizada para recibir una señal de prueba reflejada por la placa; en el que la disposición de emisión y recepción está realizada para determinar una calidad de transmisión de señal en base a la señal de prueba emitida y recibida.

11. Satélite (500) que presenta: una unidad de emisión (300) para emitir señales ópticas; una unidad de recepción

(320) para recibir señales ópticas; un dispositivo reflector de señal de prueba en satélites (100) según una de las reivindicaciones 1 a 8, en el que el dispositivo reflector de señal de prueba en satélites está realizado para en una posición de prueba reflejar una señal de prueba óptica emitida por la unidad de emisión en dirección a la unidad de recepción, de modo que la unidad de recepción recibe la señal de prueba óptica reflejada; en el que el satélite está realizado para determinar una calidad de transmisión de señal de la unidad de emisión y de la unidad de recepción por medio de la señal de prueba óptica emitida y la señal de prueba óptica reflejada.