PROCESO POR MEDIO DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA PARA EL ANÁLISIS MASIVO FÍSICO Y MECÁNICO EN MATERIALES, ARREGLOS DE BIOMATERIALES Y ESTRUCTURAS.

La presente invención se refiere a un proceso implementado por computadora que consiste en etapas de fijado preciso,

manipulación y mediciones masivas por microscopía de fuerza atómica (MFA, AFM o BioAFM) de manera automática de las propiedades físicas y mecánicas de diferentes tipos de muestras como células, bacterias solas o con interacción con nanopartículas, biomoléculas y otro tipo de nanoestructuras derivadas del carbono como el grafeno o partículas sintéticas. El proceso realiza múltiples mediciones en una sola muestra que están arregladas de forma precisa y continúa el procedimiento de forma automática a otras muestras. Al finalizar, el área de trabajo continúa con otras áreas realizando miles de nanoindentaciones en un tiempo muy corto de manera confiable y reproducible para la obtención de datos masivos y la obtención datos cuantitativos de los parámetros físico-mecánicos, permitiendo dar certeza a la medición y representatividad del tipo de material derivado de la extracción de su análisis masivo físico y mecánico que se obtiene del análisis estadístico.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/MX2018/050027.

Solicitante: INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL.

Nacionalidad solicitante: México.

Dirección: EDIFICIO DE LA DIRECCIÓN GENERAL, AV LUIS ENRIQUE ERRO S/N 07738 MEXICO 07738, MÉXICO.

Inventor/es: MARTÍNEZ RIVAS,Adrián, DAGUE,Etienne, PROA CORONADO,Sergio, SÉVERAC,Childérick, GONZÁLEZ QUIJANO,Génesis Karendash.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01Q10/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01Q TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP]. › Disposiciones para barrido o posicionamiento, es decir, disposiciones para controlar de forma activa el movimiento o posición de la sonda.
  • G01Q10/04 G01Q […] › G01Q 10/00 Disposiciones para barrido o posicionamiento, es decir, disposiciones para controlar de forma activa el movimiento o posición de la sonda. › Barrido o posicionamiento fino.
  • G01Q30/20 G01Q […] › G01Q 30/00 Medios auxiliares destinados a asistir o mejorar las técnicas o aparatos de sonda de barrido, p. ej. dispositivos de visualización o de procesamiento de datos. › Dispositivos o métodos para manejar las muestras.
  • G01Q60/24 G01Q […] › G01Q 60/00 Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido [SPM] o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto. › AFM [Microscopía de Fuerza Atómica] o aparatos empleados, p. ej. sondas AFM.
  • G01Q60/36 G01Q 60/00 […] › Modo DC.
  • G01Q80/00 G01Q […] › Aplicaciones de las técnicas de sonda de barrido distintas de la SPM (fabricación o tratamiento de microestructuras B81C; fabricación o tratamiento de nanoestructuras B82B 3/00; grabación o reproducción de información empleando la interacción del campo próximo G11B 9/12, G11B 11/24  or G11B 13/08).

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