Procedimiento integrado para analizar cristales en depósitos.
Un procedimiento para analizar cristales en un depósito en una superficie de una superficie de calentamiento de central de generación nuclear,
que comprende:
extraer una muestra de material de la superficie de la superficie de calentamiento de central de generación nuclear (etapa 20); llevar a cabo al menos uno de una microscopía electrónica de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía de la muestra (etapa 100) y una microscopía electrónica de transmisión y barrido/difracción de electrones de área seleccionada/análisis de cartografía puntual y elemental de la muestra (etapa 400) en su condición "tal como se encuentra";
si se lleva a cabo microscopía de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (etapa 100), comprende además las etapas de:
llevar a cabo al menos una de morfología tridimensional, agregación de topografía de superficie y determinación del tamaño/de la forma de las escamas (etapa 120), separación de fases (etapa 150) y cuantificación de la composición química (etapa 170) después de la microscopía electrónica de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (etapa 100) de la muestra;
realizar una simulación de Montecarlo de la interacción entre el haz de electrones y el espécimen (etapa 500) después de la al menos una de morfología tridimensional, agregación de topografía de superficie y determinación del tamaño/de la forma de las escamas (etapa 120), separación de fases (etapa 150) y cuantificación de la composición química (etapa 170); almacenar los resultados de la microscopía electrónica de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía de la muestra (etapa 100), la morfología tridimensional, la agregación de topografía de superficie y la determinación del tamaño/de la forma de las escamas (etapa 120), la separación de fases (etapa 150) y la cuantificación de la composición química (etapa 170) y la simulación de Montecarlo (etapa 500) en una base de datos estructurales (etapa 490); y
si se lleva a cabo microscopía electrónica de transmisión y barrido/difracción de electrones de área seleccionada/análisis de cartografía puntual y elemental de la muestra (etapa 400), comprende además las etapas de: llevar a cabo al menos uno de una determinación de la estructura interna, de la morfología y del tamaño/de la forma del cristal (etapa 402), una investigación de la cristalografía (etapa 404) y una investigación de la composición química (etapa 404) después de la microscopía electrónica de transmisión y barrido/difracción de electrones de área seleccionada/cartografía puntual y elemental de la muestra (etapa 400);
almacenar los resultados de la determinación de la estructura interna, de la morfología y del tamaño/de la forma del cristal (etapa 402), la investigación de la cristalografía (etapa 404) y la investigación de la composición química (etapa 406) en un sistema de datos cristalográficos (etapa 401).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2007/012471.
Solicitante: FRAMATOME INC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 3315 OLD FOREST ROAD LYNCHBURG, VA 24501 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: POP,MIHAI G.M, LOCKAMON,BRIAN GLENN, HOWE,JAMES, OLESHKO,VLADIMIR.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/225 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › utilizando microsondas electrónicas o iónicas.
- G01N23/2251 G01N 23/00 […] › utilizando haces de electrones incidentes, p. ej. microscopía electrónica de barrido [SEM].
- G01N23/2252 G01N 23/00 […] › Medición de rayos X emitidos, p. ej. análisis por microsonda electrónica [EPMA].
- G21C17/017 G […] › G21 FISICA NUCLEAR; TECNICA NUCLEAR. › G21C REACTORES NUCLEARES (reactores de fusión, reactores híbridos fisión-fusión G21B; explosivos nucleares G21J). › G21C 17/00 Monitorización; Ensayos. › Inspección o mantenimiento de tuberías o de tubos en instalaciones nucleares.
- G21C17/022 G21C 17/00 […] › para la vigilancia de refrigerantes o de moderadores líquidos.
- G21C19/42 G21C […] › G21C 19/00 Disposiciones para el tratamiento, para la manipulación, o para facilitar la manipulación, del combustible o de otros materiales utilizados en el interior del reactor, p. ej. en el interior de la vasija de presión. › Reprocesado de combustibles irradiados.
- G21F9/00 G21 […] › G21F PROTECCION CONTRA LOS RAYOS X, RAYOS GAMMA, RADIACIONES CORPUSCULARES O BOMBARDEOS DE PARTICULAS; TRATAMIENTO DE MATERIALES CONTAMINADOS POR LA RADIACTIVIDAD; DISPOSICIONES PARA LA DESCONTAMINACION (protección contra las radiaciones por medios farmacéuticos A61K 8/00, A61Q 17/04; en los vehículos espaciales B64G 1/54; asociada con un reactor G21C 11/00; asociada con un tubo de rayos X H01J 35/16; asociada con un aparato de rayos X H05G 1/02). › Tratamiento de materiales contaminados por la radiactividad; Disposiciones a este efecto para la descontaminación.
- G21F9/30 G21F […] › G21F 9/00 Tratamiento de materiales contaminados por la radiactividad; Disposiciones a este efecto para la descontaminación. › Tratamientos.
PDF original: ES-2728377_T3.pdf
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