Generación de una representación de un objeto de interés.

Un sistema (100) de inspección de materiales que comprende:

una región (212) de escaneo configurada para recibir un objeto;



una fuente (120) de radiación configurada para iluminar la región de escaneo;

un sensor (125) configurado para detectar la radiación procedente de la región de escaneo;

un procesador;

un medio de almacenamiento legible por ordenador que almacena instrucciones para generar una imagen bidimensional del objeto de interés, haciendo las instrucciones, cuando son ejecutadas, que el procesador realice lo siguiente:

generar una imagen volumétrica (108) de la región de escaneo basada en la radiación detectada, incluyendo la imagen volumétrica una representación de un objeto de interés y de otro objeto,

generar una radiografía bidimensional (109) de la región de escaneo basada en la radiación detectada, incluyendo la radiografía bidimensional una representación del objeto de interés y del otro objeto,

analizar la imagen volumétrica para identificar el objeto de interés o el otro objeto en la imagen volumétrica,

basándose en la imagen volumétrica analizada, generar una imagen bidimensional que excluya el objeto de interés,

caracterizado por que las instrucciones, cuando son ejecutadas, además hacen que el procesador realice los siguiente:

comparar la radiografía bidimensional y la imagen bidimensional que se generó basándose en la imagen volumétrica analizada y que excluye el objeto de interés identificado, y

generar una imagen bidimensional basándose en la comparación, incluyendo la imagen bidimensional el objeto de interés y excluyendo el otro objeto.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2009/039192.

Solicitante: L-3 Communications Security and Detection Systems, Inc.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 10 Commerce Way Woburn, MA 01801 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: FOLAND,ANDREW DEAN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01T1/29 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › Medida efectuada sobre haces de radiaciones, p. ej. sobre la posición o la sección del haz; Medida de la distribución espacial de radiaciones.
  • G01V5/00 G01 […] › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.
  • G06K9/46 G […] › G06 CALCULO; CONTEO.G06K RECONOCIMIENTO DE DATOS; PRESENTACION DE DATOS; SOPORTES DE REGISTROS; MANIPULACION DE SOPORTES DE REGISTROS (impresión per se B41J). › G06K 9/00 Métodos o disposiciones para la lectura o el reconocimiento de caracteres impresos o escritos o el reconocimiento de formas, p. ej. de huellas dactilares (métodos y disposiciones para la lectura de grafos o para la conversión de patrones de parámetros mecánicos, p.e. la fuerza o la presencia, en señales eléctricas G06K 11/00; reconocimiento de la voz G10L 15/00). › Extracción de elementos o de características de la imagen.

PDF original: ES-2722850_T3.pdf

 

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