Detector de corriente de fallo de arco.

Detector de corrientes de fallo de arco para una alimentación de electricidad que presenta por lo menos dos conductores de alimentación (P1,

P2) comprendiendo el detector:

un primer inductor (L1) que incluye una bobina (W1), estando el primer inductor (L1) dispuesto adyacente a por lo menos uno de los conductores (P1, P2), pero sin rodearlo, y acoplado inductivamente al mismo, y

siendo el primer inductor (L1) sensible a frecuencias en el rango de MHz;

un primer circuito (14) conectado a la bobina (W1) del primer inductor (L1) para detectar una señal inducida en la bobina (W1) que presenta unas características de frecuencia representativas de un fallo de arco en la alimentación;

un segundo inductor (L2) que incluye una bobina (W1), estando el segundo inductor (L2) dispuesto adyacente a por lo menos uno de los conductores (P2), pero sin rodearlo, y acoplado inductivamente al mismo, y siendo el segundo inductor (L2) sensible tanto a señales de frecuencia de alimentación como a corrientes de formación de arco en el rango comprendido entre 10 KHz y 150 Khz; y

un segundo circuito conectado a dicho segundo inductor (L2) y configurado para proporcionar una indicación de una magnitud de una corriente de frecuencia de alimentación, y la presencia de un fallo de arco con una corriente por formación de arco por encima de un cierto umbral.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2016/074845.

Solicitante: SHAKIRA LIMITED.

Inventor/es: WARD,PATRICK, O'BRIEN,DONAL, VIKLIUK,ANDRII.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/12 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
  • H01F38/28 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01F IMANES; INDUCTANCIAS; TRANSFORMADORES; EMPLEO DE MATERIALES ESPECIFICOS POR SUS PROPIEDADES MAGNETICAS.H01F 38/00 Adaptaciones de transformadores o inductancias a funciones o aplicaciones específicas. › Transformadores de intensidad.
  • H02H1/00 H […] › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.H02H CIRCUITOS DE PROTECCION DE SEGURIDAD (indicación o señalización de condiciones de trabajo indeseables G01R, p. ej. G01R 31/00, G08B; localización de defectos a lo largo de las líneas G01R 31/08; dispositivos de protección H01H). › Detalles de circuitos de protección de seguridad.

PDF original: ES-2714160_T3.pdf

 

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