Dispositivo de medición de huecos y método de medición de huecos.
Un dispositivo de medición de huecos (20; 40; 50) que está configurado para medir un hueco (G) entre una placa superior (12) y una placa inferior (14) en un material (10) formado por la placa superior (12) y la placa inferior (14) que se superponen entre sí en una dirección de espesor,
comprendiendo el dispositivo (20; 40; 50):
un sensor de medición de espesor de placa (22) que está configurado para medir un espesor de placa (T), siendo el espesor de placa (T) un espesor de la placa superior (12);
un sensor de medición de escalón (26) que está configurado para medir un escalón (D), siendo el escalón (D) una distancia entre una superficie superior (12a) de la placa superior (12) y una superficie superior (14a) de la placa inferior (14);
una unidad de cálculo (32) que calcula el hueco (G) entre la placa superior (12) y la placa inferior (14) restando el espesor de la placa (T) del escalón (D);
un sensor de desplazamiento (24) que está configurado para medir un primer desplazamiento (ΔZ1), siendo el primer desplazamiento (ΔZ1) un desplazamiento, en la dirección del espesor, de una porción de soporte que soporta el sensor de medición del espesor de la placa (22) en una dirección vertical; y
una unidad de determinación de disposición (34) que está configurada para determinar una disposición del sensor de medición del espesor de la placa (22) orientado hacia la superficie superior (12a) de la placa superior (12),
en donde el sensor de medición de escalón (26) está configurado para medir un segundo desplazamiento (ΔZ2) y un primer ángulo de disposición (θ), siendo el segundo desplazamiento (ΔZ2) un desplazamiento del sensor de medición de escalón (26) en la dirección del espesor, y siendo el primer ángulo de disposición (θ) un ángulo de disposición del sensor de medición del escalón (26) orientado hacia la superficie superior (12a) de la placa superior (12),
la unidad de cálculo (32) está configurada para calcular un segundo ángulo de disposición (φ), basado en una distancia entre el sensor de medición del espesor de la placa (22) y el sensor de medición del escalón (26) en cada uno de los puntos de medición, el primer desplazamiento (ΔZ1) y el segundo desplazamiento (ΔZ2), siendo el segundo ángulo de disposición (φ) un componente de un ángulo de disposición del sensor de medición del espesor de la placa (22) orientado hacia la superficie superior (12a) de la placa superior (12), y
la unidad de determinación de disposición (34) está configurada para determinar la disposición, basándose en el primer ángulo de disposición (θ) y al segundo ángulo de disposición (φ).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2016/084834.
Solicitante: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD..
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 16-5 Konan 2-chome, Minato-ku Tokyo 108-8215 JAPON.
Inventor/es: SASANO,YUICHI, YOSHITOMI,KEI, GOTO,TAKUYA, KUBOTA,TAKAHIRO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/14 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la distancia o la separación entre objetos espaciados o entre aberturas espaciadas (G01B 11/26 tiene prioridad; telémetros G01C 3/00).
- G01B17/02 G01B […] › G01B 17/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de vibraciones infrasonoras, sonoras o ultrasonoras. › para la medida del espesor.
- G01B21/16 G01B […] › G01B 21/00 Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase. › para la medida de la distancia o la separación entre objetos espaciados.
- G01B7/14 G01B […] › G01B 7/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios eléctricos o magnéticos. › para la medida de la distancia o la separación entre objetos espaciados o entre aberturas espaciadas (G01B 7/30 tiene prioridad).
PDF original: ES-2765744_T3.pdf
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