Sistema y método para la formación de imágenes de difracción de rayos X.
Un sistema de detección de dispersión de rayos X que comprende una fuente de rayos X (12),
un colimador secundario (20) y un detector de dispersión (40), en el que:
dicha fuente de rayos X (12) está configurada para emitir un haz concentrado de rayos X (70 y 202);
dicho colimador secundario (20) está configurado para garantizar que una parte de la radiación dispersa que llega a dicho detector de dispersión (40) posee un ángulo de dispersión constante con respecto al haz concentrado de rayos X; y
dicho detector de dispersión (40) está configurado para recibir radiación dispersa (36) que tiene un ángulo de dispersión desde el haz concentrado de rayos X, comprendiendo la radiación dispersa una pluralidad de partes de la radiación dispersa; dicho detector de dispersión está ubicado sustancialmente en un plano y comprende una pluralidad de bandas de detección (100, 102, 104, 106 y 108) y dicha pluralidad de bandas de detección comprenden:
una primera banda de detección (104 y 212) que tiene una primera anchura igual y paralela a una extensión lineal del haz concentrado de rayos X, en la que el haz concentrado de rayos X atraviesa el plano; dicha primera banda de detección está configurada para recibir una primera parte de la pluralidad de partes de radiación dispersa, originándose la primera parte desde una primera distancia, medida de forma perpendicular al plano, del plano; y
una segunda banda de detección (100, 102, 106 y 108) que está configurada para recibir una
segunda parte de la pluralidad de partes de radiación dispersa, originándose la segunda parte desde una segunda distancia del plano, medida de forma perpendicular al plano,
que se caracteriza porque dicha segunda banda de detección comprende una segunda anchura definida por:
**(Ver fórmula)**
donde b es la segunda anchura, bm es la primera anchura, L2m es la primera distancia y L2 es la segunda distancia.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2009/062547.
Solicitante: Morpho Detection, Inc.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 7151 Gateway Boulevard Newark, CA 94560.
Inventor/es: HARDING,GEOFFREY.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01V5/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.
PDF original: ES-2643993_T3.pdf
Patentes similares o relacionadas:
Sistema de inspección de carga, del 22 de Julio de 2020, de THE TEXAS A & M UNIVERSITY SYSTEM: Un método de inspección de carga que comprende: transportar continuamente un primer vehículo de guía sobre una guía a través de una primera estación […]
Sistema y procedimiento para inspección completa no intrusiva de aeronaves, del 17 de Junio de 2020, de SC MB Telecom Ltd SRL: Un sistema de inspección móvil no intrusivo para aeronaves que consta de: a. Unidad de escaneo móvil 1 que lleva los componentes del sistema […]
Fluorescencia de resonancia nuclear de isótopo dual para la identificación, el ensayo y la adquisición de imágenes de isótopos con fuentes mono energéticas de rayos de gamma, del 22 de Abril de 2020, de LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL SECURITY, LLC: Un aparato para la detección de uno de un primer y un segundo isótopo de un material atómico, comprendiendo el aparato: una primera estructura (54; 72; 102'); […]
Procedimiento y aparato para realizar interrogación neutrónica activa de contenedores, del 5 de Febrero de 2020, de Phoenix, LLC: Aparato de inspección del contenido de un contenedor de carga, que comprende: una fuente de neutrones y un detector de radiación ; en el que la fuente […]
Sistemas de inspección de tomografía de rayos X, del 4 de Diciembre de 2019, de CXR LIMITED: Sistema de escaneado de rayos X que comprende una fuente de rayos X dispuesta para generar rayos X desde una pluralidad de posiciones de fuente alrededor […]
Control y selección de calidad automatizados, del 13 de Noviembre de 2019, de KATHOLIEKE UNIVERSITEIT LEUVEN: Un método de inspección no destructiva para la inspección en línea de un objeto, comprendiendo el método de inspección no destructiva: - mover usando un sistema […]
Sistemas de TC y procedimientos de los mismos, del 18 de Septiembre de 2019, de TSINGHUA UNIVERSITY: Un sistema de tomografía computarizada, TC, que comprende: un mecanismo transportador configurado para transportar y mover un objeto […]
Dispositivo detector, sistema de CT de energía dual y método de detección que utiliza el sistema, del 29 de Mayo de 2019, de TSINGHUA UNIVERSITY: Dispositivo detector para un sistema de CT de energía dual, comprendiendo el dispositivo detector una pluralidad de conjuntos detectores y una placa […]