Sistema y método de medición estereoscópica.
Un sistema (100) para obtener mediciones de un objeto, comprendiendo el sistema (100):
un dispositivo (106) portátil de captura de imágenes configurado para capturar primera y segunda imágenes (116, 118) de una pluralidad de objetos y para transmitir la primera y segunda imágenes (116, 118); y un sistema (120) de procesamiento que comprende una aplicación (130) de medición ejecutable en el sistema (120) de procesamiento, comprendiendo la aplicación (130) de medición:
un módulo (308) de emparejamiento configurado para almacenar un par (310) de imágenes estéreo en una memoria (138) para cada uno de la pluralidad de objetos, comprendiendo el par (310) de imágenes estéreo una primera y segunda imágenes (116, 118) de un objeto particular que fueron capturadas simultáneamente;
caracterizado por un módulo de interfaz de usuario (UI) (320) configurado para generar una lista de pares (406) de imágenes estéreo para la visualización, para generar primera y segunda imágenes (116, 118) correspondientes de una seleccionada de una lista de pares (406) de imágenes estéreo para la visualización, y para recibir:
una primera entrada de usuario que designa un primer conjunto de puntos en un primer par de imágenes estéreo y una segunda entrada de usuario que designa un segundo conjunto de puntos en un segundo par de imágenes estéreo, en donde el primer par de imágenes estéreo comprende la primera imagen y la segunda imagen de una parte de un objeto particular, y en donde el segundo par de imágenes estéreo comprende otra primera imagen y otra segunda imagen de una parte opuesta del objeto particular;
un módulo de simetría configurado para:
definir un plano de referencia central entre el primer conjunto de puntos en el primer par de imágenes estéreo y el segundo conjunto de puntos en el segundo par de imágenes estéreo; y
calcular las desviaciones de simetría entre el primer conjunto de puntos y el segundo conjunto de puntos en función del plano de referencia central definido.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2009/044789.
Solicitante: Matrix Electronic Measuring Properties, LLC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 1725 Vortex Avenue Salina, KS 67401 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: REDDEN,WARREN, STEVENS,GEORGE B, CLENDENING,GRADY A, WATERS,WINDFLOWER, WEINTRAUB,STEVEN, REDDEN,CARL, SRACK,ROBERT W, SRACK,JANET M.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
PDF original: ES-2625729_T3.pdf
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