Procedimiento para detectar cambios de estado en una disposición y disposición para detectar cambios de estado.
Procedimiento para calibrar un sensor doble de rueda, en donde está prevista una disposición (1) con un primer dispositivo (2) con una primera unidad de ordenador (4) y con un primer dispositivo de monitorización (3),
conectado a la primera unidad de ordenador (4), en forma de un sensor de rueda para registrar señales a modo de contador axial del paso de un vehículo sobre raíles, con un segundo dispositivo (5) con una segunda unidad de ordenador (7) del mismo tipo y con un segundo dispositivo de monitorización (6) del mismo tipo, conectado a la segunda unidad de ordenador (7), en forma de un sensor de rueda para registrar señales a modo de contador axial del paso de un vehículo sobre raíles y con un ordenador principal (9), conectado a las unidades de ordenador (4, 7), caracterizado porque mediante un módulo de comunicaciones (8) conectado entre el ordenador principal (9) y las unidades de ordenador (4, 7) se reconducen unas señales de comando del ordenador principal (9) para calibrar el sensor doble de rueda hasta las unidades de ordenador (4, 7) y, en el caso de una calibración que se desarrolla desplazada en el tiempo de los dos dispositivos de monitorización (3, 6) en forma de sensores de rueda, se produce un intercambio de señales entre las unidades de ordenador (4, 7), con la finalidad de que el ordenador principal (9) reciba unas señales de salida (A1, A2) de las unidades de ordenador (4, 7) que indican el fin de la calibración de los sensores de rueda (3, 6), en donde el ordenador (9) compara las dos señales de salida (A1, A2) en cuanto a una calibración exitosa de las dos unidades de monitorización (3, 6).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2012/054861.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München ALEMANIA.
Inventor/es: WAIDA,SVEN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D18/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › Aparatos para ensayos o calibraciones o las disposiciones previstas en los grupos G01D 1/00 - G01D 15/00.
PDF original: ES-2644076_T3.pdf
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