Procedimiento para reconocer un sensor en un amplificador de medición y para la adaptación automática de un amplificador de medición a un sensor.
Procedimiento para reconocer un sensor analógico (1) con una memoria (2) en un amplificador de medición (4) y para la adaptación automática del amplificador de medición (4) al sensor (1),
en el que la memoria (2) del sensor (1) comprende datos de sensor, el amplificador de medición (4) puede unirse con el sensor (1) a través de una conexión de enchufe (3) que comprende un enchufe (5) y comprende al menos un par de contactos (11) con un primer contacto (12) y un segundo contacto (13),
el enchufe 10 (5) comprende al menos un par de contactos (7) con un primer contacto (8) y un segundo contacto (9) acoplado con el primer contacto (8),
los contactos del amplificador de medición (4) y del enchufe (5) pueden ponerse en contacto entre sí, y comprendiendo el procedimiento las etapas siguientes:
el amplificador de medición (4) aplica un potencial eléctrico al primer contacto (12) del par de contactos (11),
el amplificador de medición (4) mide el potencial eléctrico en el segundo contacto (13) del par de contactos (11),
el amplificador de medición (4) compara el potencial eléctrico del primer contacto (12) con el potencial eléctrico del segundo contacto (13),
el amplificador de medición (4), cuando los potenciales eléctricos del primer contacto (12) y del segundo contacto (13) son iguales o casi iguales, lee los datos de sensor de la memoria (2) del sensor (1) y compara los datos de sensor leídos con datos de sensor anteriores almacenados en el amplificador de medición (4), y cuando los datos de sensor leídos se diferencian de los datos de sensor anteriores, se ajusta el amplificador de medición (4) basándose en los datos de sensor leídos.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E08017780.
Solicitante: HOTTINGER BALDWIN MESSTECHNIK GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Im Tiefen See 45 64293 Darmstadt ALEMANIA.
Inventor/es: SCHNEIDER, JOCHEN, KUNKEL,ULRICH.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D3/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 3/00 Disposiciones para la medida con provisiones para los fines especiales indicados en los subgrupos de este grupo. › con provisiones para alterar o corregir la función de transferencia.
PDF original: ES-2589354_T3.pdf
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