Método de observación de la emisión de luz desde una muestra por microscopía óptica dinámica.
Método para observar una emisión de luz (14, 15) de una muestra (10) en un medio (11) de índice de refracción nL,
estando la muestra dispuesta contra una superficie (20a) de un soporte transparente (20) de índice de refracción ns superior a nL, comprendiendo la emisión de luz unos componentes luminosos de amplitud y de fase dadas, orientadas hacia el soporte y que forman un ángulo θ con una dirección (20b) perpendicular a la superficie (20a), entre las que están, por un lado, unos componentes luminosos supercríticos para los que el ángulo θ es estrictamente superior a un ángulo crítico θc ≥ arcsen(nL/ns) y, por otro lado, unos componentes luminosos críticos o subcríticos, para los que el ángulo θ es inferior o igual al ángulo crítico θc, implementando el método un dispositivo
de observación (100) capaz de:
- recoger al menos una parte de la emisión de luz de una región de interés de la muestra y obtener una señal luminosa recogida que incluye unos componentes luminosos procedentes de los componentes luminosos supercríticos de la emisión de luz;
- aplicar unos filtros (170) a la señal luminosa recogida para disminuir selectivamente la amplitud y/o modificar la fase de ciertos componentes luminosos de la señal luminosa recogida para obtener una señal luminosa filtrada; y
- transformar la señal luminosa filtrada en una zona de imagen de la región de interés de la muestra;
estando el método caracterizado por que:
- se realiza una modulación de la señal luminosa filtrada, en la que se dejan pasar unos componentes luminosos procedentes de los componentes luminosos críticos o subcríticos de la emisión de luz, para obtener unas zonas de imagen (6a, 6b) de una misma región de interés de la muestra, tratando la modulación sobre todos o parte de los componentes luminosos de la señal luminosa recogida procedente de los componentes luminosos supercríticos de la emisión de luz; y
- se produce al menos una zona de imagen útil (6c) de la muestra por combinación de las zonas de imagen (6a, 6b), poniendo en evidencia la combinación unas diferencias entre las zonas de imagen (6a, 6b) vinculadas a la modulación.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FR2011/052482.
Solicitante: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE.
Inventor/es: FORT,EMMANUEL, LEVEQUE FORT,SANDRINE, BALAA,KARLA, BARROCA,THOMAS.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02B21/00 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
- G02B21/16 G02B […] › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › adaptados para iluminación ultravioleta.
- G02B21/33 G02B 21/00 […] › Aceites de inmersión.
PDF original: ES-2617449_T3.pdf
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