Incremento dinámico en la triangulación codificada por colores.
Disposición (1) para la triangulación codificada por colores de un objeto (2) a medir,
que comprende una unidad de proyector (4) para proyectar un patrón de colores sobre una superficie de objeto del objeto (2) a medir, al menos una cámara (8) con un sensor de cámara (10), para muestrear una proyección del patrón de colores proyectado sobre la superficie, en donde el sensor de cámara (10) es sensible a la luz en una primera, en al menos una segunda y una tercera región espectral (12, 14, 16), en donde las regiones espectrales sensibles (12, 14, 16) están dispuestas según longitudes de onda ascendentes, en donde la disposición (1) comprende al menos un filtro de color (18) que presenta una primera, al menos una segunda y una tercera región de transmitancia espectral (20, 22, 24), en donde las regiones de transmitancia espectral (20, 22, 24) están separadas por parejas, en donde una longitud de onda de intervalo superior de la primera región de transmitancia (26) está situada dentro de la primera región espectral sensible (12) del sensor de cámara (10), unas longitudes de onda de intervalo inferior y superior de la al menos una segunda región de transmitancia (28, 30) están situadas dentro de la al menos una segunda región espectral sensible (14), y una longitud de onda de intervalo inferior de la tercera región de transmitancia (32) está situada dentro de la tercera región espectral sensible (16) del sensor de cámara (10), caracterizada porque la unidad de proyector (4) comprende una fuente luminosa (34 ), una transparencia (6) y el filtro de color (18), que está aplicado dentro de la unidad de proyector (4) entre la fuente luminosa (34) y la transparencia (6).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2014/062134.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München ALEMANIA.
Inventor/es: EULER,HELMUTH, RENTSCHLER,PETER, SCHICK,ANTON.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/25 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › mediante la proyección de un patrón, p. ej.franjas de Moiré, sobre el objeto (G01B 11/255 tiene prioridad).
PDF original: ES-2638781_T3.pdf
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