INTERFEROMETRO-REFRACTOMETRO POR LASER.

SE TRATA DE UN INTERFEROMETRO-REFRACTOMETRO LASER PARA LA MEDICION DEL INDICE DE REFRACCION DE UN GAS,

Y QUE SE CARACTERIZA POR UN LASER (1), COMO MINIMO UN DIVISOR DE RAYOS (10) PARA LA FUSION DEL RAYO DE LUZ LASER EN AL MENOS UN PAR DE RAYOS PARCIALES (20,20'), UN CELULA ECAMABLE (25), QUE FORMA EL RECORRIDO EN VACIO COMO PARTE DE UN RECORRIDO TOTAL REALIZADO POR UN GAS SOMETIDO A MEDICION EN CUANTO A SER RECORRIDO DENTRO DEL VACIO, CORRESPONDIENTE AL RAYO PARCIAL (20) DEL PAR DE RAYOS PARCIALES, A LO CUAL SE LE AÑADE UNA INVERSION DE RAYOS (8,9) QUE REDUNDA EN UNA DOBLE UNION DE LOS RAYOS PARCIALES (20,20'), PARA LA PRODUCCION DE INTERFERENCIAS ENTRE DICHOS RAYOS. AL OBJETO DE AUMENTAR LA EXACTITUD DEL TRAYECTO OPTICO DE UNO DE LOS RAYOS PARCIALES (20) ES GRADUABLE. PARA GRADUAR DICHA LONGITUD, UNA DE LAS PAREDES 85) QUE LIMITAN EL VOLUMEN DEL VACIO DE LA CELULA (25) Y QUE SE ENCUENTRA EN EL RECORRIDO DEL RAYO PARCIAL (20), ESTA DISEÑADA DE FORMA DESPLAZABLE. COMO CONSECUENCIA DE LA GRADUABILIDAD MEDIBLE DE LA PARED (5), RESULTAN DISTINTAS PORCIONES DEL RECORRIDO EN EL VACIO Y EN EL GAS QUE HA DE MEDIRSE, CON LO CUAL SE PUEDE VARIAR LA LONGITUD DEL TRAYECTO OPTICO. CON EL MOVIMIENTO DE LA PARED (5) SE PRODUCEN INTERFERENCIAS ENTRE LOS RAYOS PARCIALES (20,20') UNIDOS Y REFLEJADOS, LOS CUALES SE PUEDEN MEDIR MEDIANTE FOTODETECTORES (15,14)

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SPINDLER & HOYER GMBH & CO.KG.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: KONIGSALLEE 23, W-3400 GOTTINGEN.

Inventor/es: FROLICH, DIETER, DR.

Fecha de Publicación: 1 de Diciembre de 1992.

Fecha Concesión Europea: 1 de Abril de 1992.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01N21/45 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando métodos interferométricos; utilizando los métodos de Schlieren.

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