DISPOSITIVO PARA INSPECCIONAR UNA SUPERFICIE.
Dispositivo para la inspección de una superficie, estando previstos un sistema de inspección (01) con un dispositivo óptico (02) para grabar la luz reflejada por la superficie que se ha de inspeccionar,
y con un sistema de iluminación (06) que presenta al menos dos fuentes de luz (07; 08), estando conectados el dispositivo óptico (02) y el sistema de iluminación (06) con una unidad de control (04), y estando dispuestas las fuentes de luz (07; 08) a una distancia (A) entre ellas, emitiendo las fuentes de luz (07; 08) respectivamente luz a una zona de registro (11) del dispositivo óptico (02), prevista en la superficie que se ha de inspeccionar, estando dirigido el dispositivo óptico (02) hacia la superficie que se ha de inspeccionar, estando al menos una de las fuentes de luz (07; 08) del sistema de iluminación (06), dispuestas a una distancia (A) entre ellas, en varias fuentes de luz individuales (071 a 077 y/o 081 a 087), estando situada la zona de registro (11) del dispositivo óptico (02) en un plano de movimiento de la superficie a inspeccionar que se mueve por dicha zona de registro (11) con respecto al sistema de inspección (01), extendiéndose la distancia (A) de las fuentes de luz (07; 08) del sistema de iluminación (06) en el sentido de movimiento (T) de la superficie que se ha de inspeccionar, caracterizado porque la unidad de control (04) excita, opcionalmente e independientemente entre ellas, al menos dos de las fuentes de luz (07; 08) del sistema de iluminación (06), dispuestas a una distancia (A) entre ellas, y las fuentes de luz individuales (071 a 077 y 081 a 087) de al menos una de las fuentes de luz (07; 08) dispuestas a una distancia (A) entre ellas, ajustando la unidad de control (04), con las fuentes de luz (07; 08) controlables del sistema de iluminación (06), un perfil de iluminación adaptable al comportamiento de reflexión de la superficie que se ha de inspeccionar, tanto en el sentido de transporte (T) de dicha superficie como transversalmente respecto a ésta.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: KOENIG & BAUER AG.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: FRIEDRICH-KOENIG-STRASSE 4,97080 WURZBURG.
Inventor/es: STOBER,BERND,RUDIGER.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 12 de Noviembre de 2008.
Clasificación PCT:
- G01N21/88 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.
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