PROCEDIMIENTO PARA ANALIZAR UN SISTEMA PARA DETERMINAR LAS VARIABLES MEDIDAS.
Procedimiento para diseñar un sistema técnico, caracterizado por parámetros que incluyen variables de estado y variables de diagnóstico dependientes de las variables de estado,
en el que el sistema técnico se describe mediante un sistema de ecuaciones, siendo las variables de estado soluciones al sistema de ecuaciones; caracterizado por las siguientes etapas: - se analiza un parque de medidas que incluye primeras variables medidas, midiéndose las primeras variables medidas con precisiones predeterminadas en el sistema técnico y dependiendo de las variables de estado; - pueden medirse segundas variables medidas dependientes de las variables de estado en el sistema técnico con una precisión predeterminada; - se determinan primeras variables de sensibilidad para las primeras variables medidas y segundas variables de sensibilidad para las segundas variables medidas; - averiguándose para determinar las primeras variables de sensibilidad en qué medida influye una variación de la precisión de la medición de las primeras variables medidas sobre al menos un parámetro elegido y averiguándose para determinar las segundas variables de sensibilidad en qué medida influye la medición de las segundas variables medidas sobre al menos un parámetro elegido; - el parque de medidas se modifica en función de las primeras y segundas variables de sensibilidad tal que se modifica la precisión de una o varias primeras variables medidas y/o se retiran una o varias primeras variables medidas del parque de medidas y/o se añaden una o varias segundas variables medidas al parque de medidas; - el parque de medidas modificado se utiliza para diseñar el sistema técnico.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2,80333 MUNCHEN.
Inventor/es: WEBER, INGO, ALTPETER,REINHOLD, HOEVER,GEORG.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 28 de Enero de 2009.
Clasificación PCT:
- G01D1/16 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 1/00 Disposiciones de medida que dan resultados distintos al valor instantáneo de la variable, de aplicación general (G01D 3/00 tiene prioridad; en los aparatos contadores de tarifa G01D 4/00; transductores no especialmente adaptados a una variable específica G01D 5/00). › que dan un valor que es función de dos o más valores, p. ej. producto, cociente.
- G05B17/00 G […] › G05 CONTROL; REGULACION. › G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › Sistemas que implican el uso de modelos o de simuladores de dichos sistemas (G05B 13/00, G05B 15/00, G05B 19/00 tienen prioridad; computadores analógicos para procedimientos, sistemas o dispositivos específicos, p. ej. simuladores, G06G 7/48).
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