MICROSCOPIO CONFOCAL DE EXPLORACION RAPIDA POR LASER DE LINEAS MULTIPLES.

Un microscopio de exploración confocal por láser, que comprende:

un medio, incluyendo una fuente (1) de luz de láser, para emitir haces de luz de láser en diferentes longitudes de onda; una trayectoria de haces para dirigir los citados haces de luz de láser desde el citado medio de emisión de haces de luz de láser a un portaobjetos que soporta un objeto, incluyendo la citada trayectoria: un primer deflector, incluyendo un deflector acústico - óptico (5) para efectuar la exploración de líneas, al menos un objetivo (9) para enfocar los haces de luz de láser sobre el objeto en el citado portaobjetos, un segundo deflector(7) situado entre el citado deflector acústico - óptico (5) y el citado al menos un objetivo (9), para efectuar la exploración de marcos, estando situados el citado segundo deflector (7) y el citado al menos un objetivo (9) de manera que los haces (19) de luz de retorno desde el objeto sigan la misma trayectoria que los haces de luz de láser enfocados sobre el objeto, hasta e incluyendo el segundo deflector (7), al menos un detector (15; 26) situado en la trayectoria de haces de luz de retorno aguas abajo del citado segundo deflector (7), para detectar los haces de luz de retorno desde el objeto, estando adaptado el objeto para ser explorado por los haces de luz de láser desde el medio de emisión de haces de luz de láser y estando adaptadas las mediciones para realizarse con el citado al menos un detector (15; 26) con los del fin de obtener imágenes del objeto, y un sistema electrónico de control y formación de imágenes adaptado para controlar el medio de emisión de haces de luz de láser para emitir haces de luz de láser individuales secuencialmente en longitudes de onda seleccionadas y adaptado para ajustar dinámicamente los parámetros de accionamiento del citado deflector acústico - óptico (5) controlando dinámicamente la frecuencia de inicio y la frecuencia final del deflector acústico - óptico de manera que mantenga una posición de exploración de líneas constante en todas las longitudes de onda del haz de entrada, y controlando dinámicamente la velocidad de cambio de frecuencia de la señal de accionamiento al deflector acústico - óptico de manera que se obtenga un efecto de lenticularidad constante en todas las longitudes de onda del haz de entrada, para mantener la alineación de las líneas de exploración de la imagen en todas las longitudes de onda.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: VISITECH INTERNATIONAL LTD.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: ,,SUNDERLAND, SR5 2TQ.

Inventor/es: EBERHARDT,COLIN, SHEBLEE,JAFER, BELL,KEN.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 7 de Abril de 2004.

Fecha Concesión Europea: 4 de Julio de 2007.

Clasificación PCT:

  • G01N21/64 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Fluorescencia; Fosforescencia.
  • G02B21/00 G […] › G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
  • G02B26/08 G02B […] › G02B 26/00 Dispositivos o sistemas ópticos que utilizan elementos ópticos móviles o deformables para controlar la intensidad, el color, la fase, la polarización o la dirección de la luz, p. ej. conmutación, apertura de puerta, modulación (elementos móviles de dispositivos de iluminación para el control de la luz F21V; dispositivos o sistemas especialmente adaptados para medir las características de la luz G01J; dispositivos o sistemas cuyo funcionamiento óptico se modifica por el cambio de las propiedades ópticas del medio que constituyen estos dispositivos o sistemas G02F 1/00; control de la luz en general G05D 25/00; control de las fuentes de luz H01S 3/10, H05B 37/00 - H05B 43/00). › para controlar la dirección de la luz (en guías de luz G02B 6/35).

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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