SISTEMA DE GUIADO DE PRECISION DE ARMA DE PROYECTIL HIPERSONICO.
Un sistema de guiado de proyectil (20) para guiar un proyectil (12) hasta una posición de blanco (68);
que comprende: un primer sistema (32) situado en un vehículo lanzador (62) del proyectil, para determinar la posición del blanco antes del lanzamiento del proyectil (12) y proporcionar datos con respecto a eso; un segundo sistema (46-49), situado también en el vehículo lanzador (62), sensible a los datos de posición del blanco determinado para calcular una trayectoria hasta la posición del blanco; y un tercer sistema (50), situado en el proyectil (12), para guiar el proyectil (12) en vuelo a lo largo de la trayectoria calculada hasta la posición del blanco; caracterizado porque: el tercer sistema (50) es para transmitir señales de posición del proyectil al segundo sistema (46-49) a través de energía de ondas milimétricas, y el segundo sistema es para utilizar las señales de posición del proyectil para producir el acimut, elevación, alcance, grado de balanceo e información de velocidad para ajustar el calculo de la trayectoria hasta la posición del blanco, en el que el tercer sistema (50) es para recibir señales de entrada desde el segundo sistema (46-49) a través de ondas milimétricas de energía para guiar continuamente al proyectil en vuelo a lo largo de trayectoria calculada ajustada hasta la posición del blanco.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: RAYTHEON COMPANY.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: BUILDING 807 (M/S F8), P.O. BOX 11337,TUCSON, AZ 85734-1337.
Inventor/es: SCHNEIDER, ARTHUR, J., FAULKNER, DAVID, A., KLESTADT, RALPH, H.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 27 de Febrero de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- F41G33/00
Clasificación PCT:
- F41G1/00 MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA. › F41 ARMAS. › F41G APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B). › Aparatos de mira (para el tiro indirecto F41G 3/16; visores de bombardeo F41G 3/24).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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