DISPOSICION PARA CORREGIR UNA RADIACION LASER SALIENTE DE UNA FUENTE DE LUZ LASER Y PROCEDIMIENTO PARA FABRICAR DICHA DISPOSICION.
Disposición para la corrección de una radiación láser saliente de una fuente de luz láser (1),
que comprende una fuente de luz láser (1) que presenta fuentes de emisión (2) de forma lineal que están dispuestas en al menos una fila en una primera dirección (X), en donde, además, las fuentes de emisión (2) dispuestas en una fila están decaladas al menos parcialmente con respecto a la fila en una dirección (Y) perpendicular a la primera dirección (X), y en donde, además, la disposición comprende medios de corrección (8, 10) con al menos un elemento de prisma (9) que pueden corregir la radiación láser saliente de la fuente de luz de láser (1) de tal manera que se compense la distorsión espacial de la radiación láser originada por el decalaje de las fuentes de emisión (2) con respecto a la fila, caracterizada porque los medios de corrección (8) comprenden una pluralidad de elementos de prisma individuales que están ensamblados de tal manera que forman una red de prismas, en donde los elementos de prisma (9) están dispuestos en la radiación láser saliente de la fuente de luz láser (1) de tal manera que los rayos de luz (3, 3') salientes de al menos dos fuentes de emisión (2) decaladas una respecto de otra inciden en elementos de prisma diferentes (9) y son deflectados en una de sus superficies de prisma bajo un ángulo diferente de tal manera que se corrija la distorsión originada por el decalaje de estas fuentes de emisión.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: HENTZE-LISSOTSCHENKO PATENTVERWALTUNGS GMBH & CO.KG.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: DIEKSTRAAT 15,25870 NORDERFRIEDRICHSKOOG.
Inventor/es: LISSOTSCHENKO, VITALIJ, MIKHAILOV, ALEXEI.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 23 de Marzo de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02B27/09 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 27/00 Aparatos o sistemas ópticos no previstos en ninguno de los grupos G02B 1/00 - G02B 26/00, G02B 30/00. › Conformación del haz, p. ej. cambiando la sección transversal, no prevista en otro lugar.
- H01S3/00 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EL PROCESO DE AMPLIFICACION DE LUZ MEDIANTE EMISION ESTIMULADA DE RADIACIÓN [LASER] PARA AMPLIFICAR O GENERAR LUZ; DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EMISION ESTIMULADA DE RADIACION ELECTROMAGNETICA EN RANGOS DE ONDA DISTINTOS DEL ÓPTICO. › Láseres, es decir, dispositivos que utilizan la emisión estimulada de la radiación electromagnética en el rango de infrarrojos, visible o ultravioleta (láseres de semiconductores H01S 5/00).
Clasificación PCT:
- G02B27/09 G02B 27/00 […] › Conformación del haz, p. ej. cambiando la sección transversal, no prevista en otro lugar.
- H01S3/00 H01S […] › Láseres, es decir, dispositivos que utilizan la emisión estimulada de la radiación electromagnética en el rango de infrarrojos, visible o ultravioleta (láseres de semiconductores H01S 5/00).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.
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