DISPOSITIVOS PARA LA ARMONIZACION ENTRE UNA VIA DE EMISION LASER Y UNA VIA PASIVA DE OBSERVACION.
Dispositivo para la armonización entre una vía de emisión de un impulso láser hacia una escena y una vía pasiva de observación de la escena,
comprendiendo la vía de observación particularmente un objetivo de focalización (OBJ, OPT) para formar la imagen de la escena en al menos un detector de formación de imagen (DETVIS, DETIR), caracterizándose el dispositivo porque comprende - un detector rápido (DETIMP) de impulso láser que permite determinar el instante de llegada del impulso láser retrorreflejado por la escena sobre el o los detector(es) de formación de imagen, - un detector de armonización (DETVIS) que forma uno de los indicados detectores de formación de imagen y que comprende particularmente un conjunto de zonas fotosensibles en la banda espectral del láser de emisión, - medios de control (MCD) del detector de armonización en la modalidad de formación de imagen o en la modalidad de armonización, que recibe la señal (S) proporcionada por el detector rápido, y que permite, en la modalidad de armonización, el funcionamiento del detector de armonización según dos fases, - una primera fase de espera, durante la cual las cargas eléctricas procedentes de la conversión de los fotones recibidos por las zonas fotosensibles se integran de forma casi-continua con un tiempo de integración lo suficientemente corto para permitir la detección del flujo procedente de un impulso láser retrorreflejado por la escena en el flujo continuo difundido por la escena, - una segunda fase de lectura, desencadenada por la señal recibida del detector rápido en el momento de la detección de un impulso láser retrorreflejado por la escena, produciendo la puesta en secuencia de las cargas integradas en el momento de la detección del indicado impulso con el fin de detectar en la imagen así obtenida la posición de la mancha láser correspondiente, - medios de cálculo (MCL) que permiten calcular, a partir de la posición de la mancha láser en la imagen, los defectos de armonización que corresponden a las diferencias angulares (x, y) entre el eje (Äi) de la vía de observación y el del (Ä?) de la vía de emisión láser.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: THALES.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 173, BOULEVARD HAUSSMANN,75008 PARIS.
Inventor/es: PEPIN, CHRISTIAN, DOITTAU, FRANCOIS-XAVIER, FONTANELLA, JEAN-CLAUDE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 26 de Enero de 2005.
Clasificación Internacional de Patentes:
- F41G3/32 MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA. › F41 ARMAS. › F41G APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B). › F41G 3/00 Aparatos de puntería (dispositivos de mira F41G 1/00; determinación de la dirección, la distancia o la velocidad mediante ondas de radio u otras ondas G01S; computadores G06; antenas H01Q). › Dispositivos para ensayos o verificaciones.
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