METODO Y APARATO PARA EL PERFILADO SUPERFICIAL DE MATERIALES Y CALIBRACION DE LASERES DE ABLACION.
La invención se refiere a un procedimiento de medición del perfil superficial de una muestra (8),
que consiste en dirigir un haz luminoso procedente de una fuente luminosa (2), a través de un divisor de haz (6) de manera que se formen dos haces divididos, en dirigir respectivamente dicho haz sobre una superficie de muestra (8) y una superficie de referencia (10), en reenviar los haces divididos a través del divisor de haz (6), y en dirigir los haces divididos hacia un sistema de formación de imagen (12). La invención se refiere también a un aparato de perfilado superficial para la medición del perfil superficial de una muestra (8), que comprende una fuente luminosa (2) para generar un haz fuente, un medio de división de haz (6) colocado sobre el trayecto del haz fuente, para dividir este último en haces divididos, una superficie de referencia (10), una superficie de muestra que permite a los haces divididos atravesar trayectos separados y ser reenviados mediante división de haz (6), un medio de posicionamiento de superficie de referencia (14) para posicionar la superficie de referencia, y un medio de proyección (12) para la formación de imágenes de haces combinados. La invención se refiere también a un aparato de calibración de un láser para la ablación de una sustancia, que comprende el aparato de perfilado superficial de la invención.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: THE LIONS EYE INSTITUTE OF WESTERN AUSTRALIA INCORPORATED.
Nacionalidad solicitante: Australia.
Dirección: 2ND FLOOR, 2 VERDUN STREET,NEDLANDS, W.A. 6009.
Inventor/es: VAN SAARLOOS, PAUL, PHILLIP, MACPHERSON, DAVID, CLYDE, RED CONE RESEARCH INC.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 17 de Julio de 1998.
Fecha Concesión Europea: 24 de Septiembre de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- A61F9/007 NECESIDADES CORRIENTES DE LA VIDA. › A61 CIENCIAS MEDICAS O VETERINARIAS; HIGIENE. › A61F FILTROS IMPLANTABLES EN LOS VASOS SANGUINEOS; PROTESIS; DISPOSITIVOS QUE MANTIENEN LA LUZ O QUE EVITAN EL COLAPSO DE ESTRUCTURAS TUBULARES, p. ej. STENTS; DISPOSITIVOS DE ORTOPEDIA, CURA O PARA LA CONTRACEPCION; FOMENTACION; TRATAMIENTO O PROTECCION DE OJOS Y OIDOS; VENDAJES, APOSITOS O COMPRESAS ABSORBENTES; BOTIQUINES DE PRIMEROS AUXILIOS (prótesis dentales A61C). › A61F 9/00 Métodos o dispositivos para el tratamiento de los ojos; Dispositivos para colocar las lentes de contacto; Dispositivos para corregir el estrabismo; Aparatos para guiar a los ciegos; Dispositivos protectores de los ojos que se llevan sobre el cuerpo o en la mano (gorras con medios para la protección de los ojos A42B 1/0181; viseras para cascos A42B 3/22; baños para los ojos A61H 35/02; gafas de sol o de protección con las mismas características que las gafas normales G02C). › Métodos o dispositivos para la cirugía ocular.
- B23K26/02 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B23 MAQUINAS-HERRAMIENTAS; TRABAJO DE METALES NO PREVISTO EN OTRO LUGAR. › B23K SOLDADURA SIN FUSION O DESOLDEO; SOLDADURA; REVESTIMIENTO O CHAPADO POR SOLDADURA O SOLDADURA SIN FUSION; CORTE POR CALENTAMIENTO LOCALIZADO, p. ej. CORTE CON SOPLETE; TRABAJO POR RAYOS LASER (fabricación de productos revestidos de metal por extrusión de metales B21C 23/22; realización de guarniciones o recubrimientos por moldeo B22D 19/08; moldeo por inmersión B22D 23/04; fabricación de capas compuestas por sinterización de polvos metálicos B22F 7/00; disposiciones sobre las máquinas para copiar o controlar B23Q; recubrimiento de metales o recubrimiento de materiales con metales, no previsto en otro lugar C23C; quemadores F23D). › B23K 26/00 Trabajo por rayos láser, p. ej. soldadura, corte o taladrado. › Colocación o vigilancia de las piezas, p. ej. con relación al punto de impacto; Alineación, apuntamiento o focalización del haz de rayos láser.
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
- G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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