PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDICIONES DE Y REMISION Y TRANSMISION ESPECTRAL.
PARA LA DETERMINACION DE VALORES DE COLORACION REFLECTANTES O TRANSPARENTES SOBRE CAPAS DE PELICULA DELGADA APLICADA SOBRE SUBSTRATOS SE UTILIZA UN PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DE LAS CURVAS DE GRADO DE REMISION,
DONDE SE CORRIGEN LAS INESTABILIDADES PERTURBADORAS DE LA MEDICION DEL VALOR DE COLORACION, DE ACUERDO CON LAS CONDICIONES DEL APARATO, MEDIANTE NORMALIZACION DE LAS FUNCIONES DE RADIACION MEDIDAS SOBRE EL ESPECTRO DE LUZ DE MEDICION ACTUAL Y A TRAVES DE LA CONSIDERACION DE LOS INFLUJOS DE LUZ EXTRAÑA QUE SE DISPONEN EN LOS ESPECTROS DE MEDICION. EL DISPOSITIVO DE MEDICION ABARCA UNA FUENTE (4,6A) DE LUZ QUE ILUMINA LA SUPERFICIE DEL SUBSTRATO A SER INVESTIGADO, UN DISPOSITIVO OPTICO EN UNA PRIMERA VIA (20,9,8B,10B) DE RADIACION, CON EL CUAL ES DIRECCIONABLE LA LUZ REFLEJADA O TRANSMITIDA A PARTIR DEL SUBSTRATO SOBRE EL ESPACIO (16) DE ENTRADA DE UN DISPOSITIVO (14) DETECTOR DE LUZ Y DE APLICACION DISPERSIVA DE LUZ, DISPONIENDOSE DE MEDIOS, CON LOS QUE ES REALIZABLE EL ESPECTRO DE EMISION CARACTERISTICO EMITIDO A PARTIR DE LA FUENTE DE LUZ DE LA PORCION DE LUZ DIRECTA DEL DISPOSITIVO (14) DISPERSIVO DE LUZ EN BASE AL ANALISIS ESPECTRAL. PARA ELLO SON SEPARABLE LA PRIMERA VIA (20,9,8B,10B) DE RADIACION ASI COMO AL MENOS UNA SEGUNDA VIA (13,8A,10A) DE RADIACION RESPECTIVAMENTE DE FORMA CAMBIANTE CON UN DISPOSITIVO (11B,11A) DE DIAFRAGMA CON APLICACION DE DENSIDAD DE LUZ. LA FUENTE (6A) DE LUZ SE COMPONE DE UNA ESFERA (6A) DE FOTOMETRO, EN LA QUE SE APLICA UNA LAMPARA (4). COMO LAMPARA (4) SE HA PREVISTO UNA FUENTE DE LUZ DURADERA, EN PARTICULAR UNA LAMPARA DE LUZ HALOGENA. LAS INESTABILIDADES DEBIDO A LAS CONDICIONES DE TIEMPO LARGAS SE CORRIGEN ESENCIALMENTE CON UNA FORMA ESTANDAR Y TENIENDO EN CUENTA INESTABILIDADES DE TIEMPO CORTO BAJO CONSIDERACION DE LOS ESPECTROS DE EMISION CARACTERISTICOS DE LA LAMPARA (4) UTILIZADA.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: BALZERS UND LEYBOLD DEUTSCHLAND HOLDING AG.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WILHELM-ROHN-STRASSE 25,63450 HANAU.
Inventor/es: MULLER, WALTER, LENZ, WERNER, KAPPEL, PETER, SCHAFER, CHRISTIAN, DR., SCHEBESTA, WILHELM, BASLER, ULRICH, MONDRY, JENS, GOBEL, JURGEN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 6 de Agosto de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/47 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad).
- G01N21/55 G01N 21/00 […] › Reflexión especular.
- G01N21/59 G01N 21/00 […] › Transmisibilidad (G01N 21/25 tiene prioridad).
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