APARATO DE OTDR.
EL APARATO DE FUENTE DE LUZ LASER DE IMPULSO EN EL APARATO OTDR DE LA PRESENTE INVENCION COMPRENDE UN GUIAONDA OPTICO QUE RECIBE Y GUIA LA LUZ EMITIDA DESDE LA PRIMERA CARA TERMINAL EMISORA DE LUZ,
EN DONDE EL GUIAONDA OPTICO COMPRENDE UN AREA REFLECTORA QUE REFLEJA SELECTIVAMENTE UNA PARTE DE LA LUZ EMITIDA DESDE UNA CARA TERMINAL EMISORA DE LUZ DE UN DISPOSITIVO EMISOR DE LUZ SEMICONDUCTOR, UN NUCLEO DE AREA REFLACTORA COMPRENDE UNA PRIMERA REJILLA DE DIFRACCION QUE ESTA DISPUESTA EN UN PRIMER AREA Y CUYO INDICE DE REFRACCION CAMBIA PERIODICAMENTE A LO LARGO DE UNA DIRECCION DEL EJE OPTICO, LA PRIMERA REJILLA DE DIFRACCION REFLEJA SELECTIVAMENTE, LA LUZ EMITIDA DESDE LA CARA TERMINAL EMISORA DE LUZ DEL DISPOSITIVO EMISOR DE LUZ SEMICONDUCTOR, UNA PARTE DE LA LUZ DENTRO DE UNA PRIMERA GAMA DE LONGITUDES DE ONDA. Y LA REJILLA DE DIFRACCION ES UNO DE LOS DISPOSITIVOS QUE CONSTITUYEN UN RESONADOR LASER.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD..
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 5-33, KITAHAMA 4-CHOME, CHUO-KU,OSAKA-SHI, OSAKA 541.
Inventor/es: SHIGEHARA, MASAKAZU, INOUE, AKIRA.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 11 de Junio de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01M11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar.
- H01S5/10 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EL PROCESO DE AMPLIFICACION DE LUZ MEDIANTE EMISION ESTIMULADA DE RADIACIÓN [LASER] PARA AMPLIFICAR O GENERAR LUZ; DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EMISION ESTIMULADA DE RADIACION ELECTROMAGNETICA EN RANGOS DE ONDA DISTINTOS DEL ÓPTICO. › H01S 5/00 Láseres de semiconductor (diodos superluminiscentes H01L 33/00). › Estructura o forma del resonador óptico.
- H04B10/08
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