GENERACION DE IMPULSOS DE LUZ ULTRACORTOS ESTABILIZADOS Y SU USO PARA LA SINTESIS DE FRECUENCIAS OPTICAS.

Procedimiento para la puesta en práctica de un dispositivo láser (1,

200), en el que en una disposición de resonadores (3) se generan impulsos de luz que circulan en la misma, cada uno de los cuales se compone de componentes espectrales correspondientes a un conjunto de modos longitudinales (M, M1, M2) de la disposición de resonadores (3), y se someten a una compensación de la dispersión de la velocidad de grupo, caracterizado porque en la trayectoria óptica de la disposición de resonadores (3) se introduce una dispersión lineal predeterminada de modo que por lo menos un modo posea una determinada frecuencia y/o que la separación entre los modos tenga un valor determinado.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FIRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V..

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: HOFGARTENSTRASSE 8,80539 MUNCHEN.

Inventor/es: HOLZWARTH, RONALD, REICHERT, JIRG, UDEM, THOMAS, HINSCH, THEODOR, W.

Fecha de Publicación: 1 de Abril de 2003.

Fecha Solicitud PCT: 10 de Marzo de 2000.

Fecha Concesión Europea: 9 de Octubre de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01J9/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › G01J 9/00 Medida del desfase de rayos luminosos; Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00). › por métodos interferométricos.
G01N21/17 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado (en los que el material examinado es ópticamente excitado para producir un cambio de la longitud de onda de la luz incidente G01N 21/63).
H01S3/081 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EL PROCESO DE AMPLIFICACION DE LUZ MEDIANTE EMISION ESTIMULADA DE RADIACIÓN [LASER] PARA AMPLIFICAR O GENERAR LUZ; DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EMISION ESTIMULADA DE RADIACION ELECTROMAGNETICA EN RANGOS DE ONDA DISTINTOS DEL ÓPTICO. › H01S 3/00 Láseres, es decir, dispositivos que utilizan la emisión estimulada de la radiación electromagnética en el rango de infrarrojos, visible o ultravioleta (láseres de semiconductores H01S 5/00). › con más de dos reflectores.
H01S3/098 H01S 3/00 […] › Acoplamiento de modos; Supresión de modos (supresión de modos con la ayuda de una pluralidad de resonadores H01S 3/082).
H01S3/139 H01S 3/00 […] › por control de la posición relativa o de las propiedades reflectantes de los reflectores de la cavidad.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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