PROCESO DE DISPOSITIVO DE CONTROL NO DESTRUCTIVO POR INTERFEROMETRO HALOGRAFICO DE RECINTOS DE MATERIAL COMPUESTO.

-LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCESO DE CONTROL NO DESTRUCTIVO POR INTERFEROMETRIA HOLOGRAFICO DE RECINTOS DE MATERIAL COMPUESTO BOBINADO SOBRE UN REVESTIMIENTO METALICO EN EL QUE SE HACE INTERFERIR DOS IMAGENES HOLOGRAFICAS DE LA MISMA ZONA A CONTROLAR,

TOMADAS EN DOS ESTADOS DE SOLICITACION TERMICA DIFERENTES, CARACTERIZADO EN QUE LA SOLICITACION TERMICA SE APLICA DE MANERA HOMOGENEA AL CONJUNTO DEL REVESTIMIENTO, EN EL INTERIOR DEL RECINTO Y LA TOMA DE INTERFEROGRAMA SE EFECTUA EN EL EXTERIOR DEL RECINTO, EN QUE LA SEGUNDA IMAGEN SE TOMA TRAS HABER LLEVADO EL REVESTIMIENTO (2) A UNA TEMPERATURA DIFERENTE DE LA QUE TENIA EN EL MOMENTO DE LA TOMA DE LA PRIMERA IMAGEN Y EN QUE EL DISPARO DE LA SEGUNDA TOMA DE IMAGEN ESTA DIRIGIDO A LA DETECCION, EN EL EXTERIOR Y EN LAS CERCANIAS DEL RECINTO (1), DE UNA VARIACION, DEBIDO A LA MODIFICACION DE TEMPERATURA SUFRIDA POR EL REVESTIMIENTO (2), DE LA RADIACION INFRARROJA EXTERNA EMITIDA POR EL RECINTO, IGUAL A UN UMBRAL PREDETERMINADO. -APLICACION EN PARTICULAR A LOS DEPOSITOS DE ALMACENAMIENTO DE GAS A ALTA PRESION.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: AEROSPATIALE SOCIETE NATIONALE INDUSTRIELLE.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 37, BOULEVARD DE MONTMORENCY,75781 PARIS CEDEX 16.

Inventor/es: BOUTEYRE, JACQUES.

Fecha de Publicación: 16 de Octubre de 1998.

Fecha Concesión Europea: 24 de Junio de 1998.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01B11/16 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la deformación de un sólido, p. ej. galga extensiométrica óptica.
G01B9/021 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › que utilizan técnicas holográficas.

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