APARATO PARA PROBAR CIRCUITOS INTEGRADOS INCLUYENDO UNA ESTRUCTURA DE CONDENSADOR DE PASO.
UN DISPOSITIVO PARA EXPLORAR EL FUNCIONAMIENTO DE CIRCUITOS INTEGRADOS DE ALTA VELOCIDAD (CI) POR ALGUN TIEMPO EN FORMA DE CHAPA O SEPARADO DE LA CHAPA QUE INCLUYE UNA PRIMERA (14,
92) Y SEGUNDA (12) SONDAS SEPARADAS MONTADAS DE FORMA FIJA EN UN ELEMENTO DE SOPORTE (16) PARA SITUAR DE FORMA PRECISA LA PRIMERA Y SEGUNDA SONDAS EN TRES DIMENSIONES PARA PONER EN CONTACTO AL MENOS UN PRIMER PUNTO (32, 34) Y UN SEGUNDO PUNTO (28), RESPECTIVAMENTE, EN UN CI EN PRUEBA. LA PRIMERA Y SEGUNDA SONDAS ESTAN INTERCONECTADAS EN UNA PARTE PREDETERMINADA DE SU LONGITUD POR UN ELEMENTO CONDENSADOR (38) QUE PROPORCIONA FLEXIBILIDAD SUFICIENTE PARA FACILITAR UN MOVIMIENTO INDEPENDIENTE DE LA PRIMERA Y SEGUNDA SONDAS Y EVITAR PARAMETROS DE INTRODUCCION (POR EJEMPLO, INDUCTANCIA) QUE INTERFIERAN CON LA COMPROBACION A ALTA VELOCIDAD DEL CI. EN UNA REALIZACION, LA PRIMERA SONDA ES UNA SONDA DE LINEA DE TRANSMISION (POR EJEMPLO, UNA LINEA COAXIAL) Y LA SEGUNDA SONDA ES UNA SONDA DE CABLE PARA SUMINISTRAR ALIMENTACION AL SEGUNDO PUNTO DEL CI. EN OTRA REALIZACION, LA PRIMERA Y SEGUNDA SONDAS SON SONDAS DE CABLE PARA PROPORCIONAR UN POTENCIAL DE REFERENCIA Y ALIMENTACION, RESPECTIVAMENTE, AL PRIMER Y SEGUNDO PUNTOS RESPECTIVOS DEL CI. EL ELEMENTO CONDENSADOR PUEDE CONSTAR DE SOLO UN CONDENSADOR DE TIPO DE HOJAS METALICAS (80), O UN CONDENSADOR (24) EN SERIE CON UNA BANDA DE METAL FLEXIBLE (27) QUE TIENE DIMENSIONES PARA MINIMIZAR LA INDUCTANCIA PARA INTERCONECTAR ELECTRICAMENTE LA PRIMERA Y SEGUNDA SONDAS. EL CONDENSADOR FUNCIONA PARA BLOQUEAR LA CORRIENTE CONTINUA Y PASAR SEÑALES DE C.A CUANDO SEAN NECESARIAS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: GGB INDUSTRIES, INC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 3173 SOUTH HORSESHOE DRIVE,NAPLES, FL 33942.
Inventor/es: BOLL, GREGORY, GEORGE, BOLL HARRY, JOSEPH.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 8 de Junio de 1994.
Fecha Concesión Europea: 21 de Mayo de 1997.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R1/067 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 1/00 Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R 5/00 - G01R 13/00 y G01R 31/00 (detalles estructurales particulares a disposiciones electromecánicas para medir el consumo eléctrico G01R 11/02). › Sondas de medida.
Países PCT: Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Oficina Europea de Patentes, Canadá, China, Japón, República de Corea, República Popular Democrática de Corea.
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