DISPOSITIVO DETECTOR DE CORTOCIRCUITOS PERFECCIONADO.
DISPOSITIVO DETECTOR DE CORTOCIRCUITOS PERFECCIONADO, DE LOS DESTINADOS A INDICAR DE FORMA OPTICA Y ACUSTICA LA PRODUCCION DE UN CORTOCIRCUITO EN UNA INSTALACION DOMESTICA,
COMERCIAL O INDUSTRIAL, CARACTERIZADO POR ESTAR CONSTITUIDO A PARTIR DE UN CUERPO (1), QUE ACTUA COMO CHASIS O BASTIDOR PRINCIPAL EL CUAL DISPONE INTERIORMENTE DE ELEMENTOS Y APARATOS CONVENCIONALES QUE PERMITEN SU ACTUACION COMO RADIO RELOJ (2), DISPONIENDO DE UN ALTAVOZ (4) Y UN PULSADOR DE PUESTA EN MARCHA Y PARADA (3), CONTANDO CON UNA CONCAVIDAD EL CUERPO (1) PARA LA ADAPTACION DE UN CHASIS O BASTIDOR (5) QUE PRESENTA INTERIORMENTE LA INCORPORACION DE PILAS O BATERIAS (7) Y UN ASIDERO (6), PARA SU EXTRACCION Y ACOPLAMIENTO SOBRE EL CUERPO (1), QUEDANDO ALIMENTADO DE ENERGIA ELECTRICA EL CUERPO (1) EN CASO DE LA PRODUCCION DE UN CORTOCIRCUITO POR UNOS CONECTORES (6') EMERGENTES DEL CHASIS (5), PRESENTANDO EXTERIORMENTE EL CHASIS (5) UN ELEMENTO EMISOR DE SEÑALES LUMINOSAS (10), ALIMENTANDOSE EL DISPOSITIVO (1) DE FORMA CONVENCIONAL DE LA RED ELECTRICA MEDIANTE CABLE FLEXIBLE (8) EN COLABORACION CON UNA CLAVIJA (9).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: DE LUCAS MATIAS, ANTONIO.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: MADRID.
Fecha de Solicitud: 20 de Mayo de 1994.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 31 de Marzo de 1995.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
- G01R31/08 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Localización de defectos en los cables, líneas de transmisión o redes.
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