PROCEDIMIENTO PARA RECONOCER LA POSICION ESPACIAL Y ORIENTACION DE CUERPOS ANTERIORMENTE CONOCIDOS.
EL METODO CONOCIDO DE RECONOCIMIENTO DE MUESTRAS MEDIANTE EL TRATAMIENTO DE IMAGEN GRIS LLEGA A SUS LIMITES EN ALGUNOS DE LAS APLICACIONES INDUSTRIALES DE HOY.
YA ES USUAL LA APLICACION DEL PROCEDIMIENTO DE TRIANGULACION Y EL USO DE SENSORES 3D Y ESCANERS LASER. CON ELLO SE PRODUCEN DATOS DE IMAGENES TRIDIMENSIONALES. PARA RECONOCER LA POSICION Y LA ORIENTACION DE UN CUERPO CUALQUIERA ANTERIORMENTE CONOCIDO (1) RESPECTO AL SISTEMA DE COORDENADAS GENERAL CARTESIANO (X, Y, Z) ESTE INVENTO UTILIZA CRITERIOS DE EVALUACION QUE SIEMPRE SE BASAN EN UNA MULTITUD DE PUNTOS EXISTENTES Y POR LO TANTO DEPENDEN DE MEDICIONES ERRONEAS INDIVIDUALES. EN EL CASO ESPECIAL SE SECCIONA UN CUERPO CONOCIDO (1) CON UN PRIMITIVO DE VOLUMEN (2), AQUI UNA BOLA, LA LINEA DE CORTE (5) SE LLENA UNIFORMEMENTE CON UN DETERMINADO NUMERO DE PUNTOS DE APOYO (4), SE CALCULA LA SUMA DE TODOS LO MOMENTOS DE INERCIA DE LOS PUNTOS DE APOYO (4) SE AVERIGUA MEDIANTE TRANSFORMACION DEL EJE PRINCIPAL UN TRIPLE DE LOS MOMENTOS PRINCIPALES DE INERCIA Y COMPARANDO CON LOS DATOS ALMACENADOS DE UNA POSICION DE REFERENCIA SE AVERIGUA LA ORIENTACION DEL CUERPO CONOCIDO (1) RESPECTO A LA POSICION DE REFERENCIA. LOS DATOS ALMACENADOS SON CARACTERISTICAS DE COMPARACION DEL CUERPO CONOCIDO (1) TOMADOS Y CALCULADOS POR EL MISMO PROCEDIMIENTO. EL PROCEDIMIENTO LLEVA A UNA REDUCCION SUSTANCIAL DE LOS DATOS PARA EL RECONOCIMIENTO DE MUESTRAS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2, D-80333 MUNCHEN.
Inventor/es: DOEMENS, GUNTER, DR., MENGEL, PETER, DR., BRENDES, MARTIN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 22 de Diciembre de 1993.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
- G06F15/70
- H01L21/00 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › Procedimientos o aparatos especialmente adaptados para la fabricación o el tratamiento de dispositivos semiconductores o de dispositivos de estado sólido, o bien de sus partes constitutivas.
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