UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL.
MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL. COMPRENDE: UNA SECCION (1) CUADRADA,
QUE ESTA ENLAZADA POR UN PRIMER PAR DE BANDAS (2, 3) A UNA SECCION (4) EN FORMA DE L, Y ESTA ULTIMA, A SU VEZ, ESTA ENLAZADA POR UN SEGUNDO PAR DE BANDAS (5, 6) AL CUERPO DE UNA PASTILLA (7); UNA PRIMERA RANURA (8) EN FORMA DE HERRADURA Y UNA SEGUNDA RANURA RECTANGULAR (10); UNA TERCERA RANURA (11), QUE SE EXTIENDE POR DENTRO DE LA RANURA (10); Y UNA PUNTA TUNEL (18) QUE SE ASIENTA EN EL EXTREMO LIBRE DE LA LENGUETA (17), DEBAJO DE LA CUAL SE HA PREVISTO UN CANAL (16). TIENE UTILIDAD EN LABORATORIOS DE INVESTIGACION.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: ARMONK, NUEVA YORK 10504, U.S.A..
Fecha de Solicitud: 6 de Marzo de 1986.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 20 de Abril de 1987.
Clasificación Internacional de Patentes:
- H01J37/26 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Microscopios electrónicos o iónicos; Tubos de difracción de electrones o de iones.
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