APARATO INTERFEROMETRO DOTADO DE HACES LUMINOSOS DE MEDICION Y SUPERVISION.
Aparato interferómetro dotado de haces luminosos de medición y supervisión,
que comprende; (a) un primer interferómetro a través del cual se dirige dicho haz de luz medidor hacia un primer reflector, el cual está espaciado a una distancia variable del primer interferómetro, (b) un primer medio medidor asociado al primer interferómetro para la medición e indicación de la distancia en la trayectoria luminosa de medición entre el primer interferómetro y el primer reflector, (c) un segundo interferómetro a través del cual se dirige el haz luminoso de supervisión hacia un segundo reflector, el cual está espaciado a una distancia fija y predeterminada del segundo interferómetro, (d) un segundo medio medidor asociado al segundo interferómetro para la medición o indicación de la distancia en la trayectoria luminosa de supervisión entre el segundo interferómetro y el segundo reflector, (e) medios para acumular el cambio, durante un período de tiempo, de la distancia en la trayectoria luminosa de supervisión medida por el segundo medio medidor, cuyo cambio es causado por una variación en el medio ambiente de dicho aparato, y (f) medios correctores que responden a dichos medios acumuladores y están conectados al primer medio medidor para corregir la citada distancia en la trayectoria luminosa de medición indicada, mediante multiplicación de esta distancia por un factor de corrección correspondiente a la mencionada distancia fija y predeterminada, dividida por la suma de esta última y el referido cambio en la distancia de la trayectoria luminosa de supervisión.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: FARRAND INDUSTRIES, INC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 115 WALL STREET, VALHALLA, NEW YORK 10595.
Fecha de Solicitud: 28 de Junio de 1979.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 16 de Agosto de 1980.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B9/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
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