SUSTITUTOS PARA DIANAS Y PANELES DE REFERENCIA MEJORADOS.

SE PRESENTA UN METODO PARA DETERMINAR LA REACTIVIDAD DE UN COMPUESTO CANDIDATO, CON UN ELEMENTO OBJETIVO CUYO METODO NO REQUIERE LA PRESENCIA FISICA DEL ELEMENTO OBJETIVO. MEDIANTE LA ELABORACION DE UNA FORMULA PARA TRATAR LOS DATOS OBTENIDOS DE UN JUEGO DE REFERENCIAS DE SUSTITUTIVOS DEL ELEMENTO OBJETIVO CUYA FORMULA PUEDE PREDECIR LA REACTIVIDAD CON EL ELEMENTO OBJETIVO, EL COMPUESTO QUE QUIERE ENSAYARSE PUEDE VALORARSE FISICAMENTE CON RESPECTO A LOS PANELES DE REFERENCIA, A LA FORMULA APLICADA, Y PUEDE PREDECIRSE LA REACTIVIDAD CON EL ELEMENTO OBJETIVO REAL. SE DESCRIBEN LOS PANELES COMPUESTOS POR MIEMBROS INDIVIDUALES, ESTANDO COMPUESTOS LOS CITADOS MIEMBROS POR PROTEINAS, EN DONDE AL MENOS UNO DE LOS MIEMBROS DEL PANEL ES UNA PROTEINA QUE NO ES UNA INMUNOGLOBINA

(IG) O UN FRAGMENTO DE ELLA Y EN DONDE LA PRESENCIA DE LA CITADA PROTEINA NO IG ENRIQUECE EL PANEL. ESTOS PANELES PUEDEN ENSAYARSE EN CUANTO A SU REACTIVIDAD CON UNA SUSTANCIA ANALITICA PARA CREAR UN PERFIL. ESTOS PERFILES PUEDEN USARSE EN LA ADAPTACION DE PATRONES, EL ANALISIS DE MUESTRAS Y OTROS ANALISIS.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: TELIK, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 750-H GATEWAY BOULEVARD, SOUTH SAN FRANCISCO, CA 94080.

Inventor/es: VILLAR, HUGO O., KAUVAR, LAWRENCE, M..

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 5 de Enero de 1995.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales por métodos... > G01N33/53 (Ensayos inmunológicos; Ensayos en los que interviene la formación de uniones bioespecíficas; Materiales a este efecto)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales por métodos... > G01N33/68 (en los que intervienen proteínas, péptidos o aminoácidos)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Mónaco, Irlanda, Oficina Europea de Patentes.

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