INTERFEROMETRO DE ALTA PRECISION CON CONDUCTORES DE LUZ.

Interferómetro para la medición de una diferencia de fases entre un haz de referencia y un haz objeto transformado por un elemento óptico (10) compuesto por un medio de fuente luminosa (2) para generar el haz objeto y el haz de referencia;

un dispositivo óptico (3) para permitir la interferencia entre el haz objeto transformado y el haz de referencia en un plano de detección (34); y un medio de detección, para detectar la diferencia de fase entre los frentes de onda del haz objeto transformado y el haz de referencia en el plano de detección (34), caracterizado porque el dispositivo óptico (3) consta de: un primer conductor luminoso (30) con una superficie de entrada que acopla el haz objeto generado por el medio de fuente luminoso (2) en el primer conductor luminoso (30) y con una primera superficie de salida (31) que genera un haz objeto (36) con un frente de onda esférico; un segundo conductor luminoso (32) con una superficie de entrada que acopla el haz de referencia generado por el medio de fuente luminoso (2) en el segundo conductor luminoso (32) y con una segunda superficie de salida (33) que genera un haz de referencia (37) con un frente de onda esférico, siendo dirigido el haz de referencia (37) al plano de detección (34) y en el que la disposición del primer conductor luminoso (30) y el elemento óptico (10) es de tal modo que el haz objeto transformado (36’) interfiera con el haz de referencia (37) en el plano de detección (34) de modo que el dispositivo óptico (3) no contenga elemento óptico alguno entre el punto en que se generan los frentes de onda esféricos y el plano de detección 34, excepto el elemento óptico (10) que transforma el haz objeto.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: STICHTING VOOR DE TECHNISCHE WETENSCHAPPEN.

Nacionalidad solicitante: Países Bajos.

Dirección: VAN VOLLENHOVENLAAN 661 P.O. BOX 3021,3502 GA.

Inventor/es: KLAVER, RENATUS, GERARDUS.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 9 de Junio de 1999.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/24 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
  • G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
  • G01M11/02 G01 […] › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar. › Ensayos de las propiedades ópticas.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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