DISPOSITIVO PARA EL ANALISIS MECANICO-DINAMICO DE MUESTRAS.

Dispositivo para el análisis mecánico-dinámico de muestras en el que, sobre un soporte rígido

(1) de eje longitudinal vertical y a lo largo de una línea de transmisión de fuerzas paralela al mismo, se han dispuesto: un convertidor electromecánico (9) conectado a la línea de transmisión de fuerzas, destinado a aplicar una fuerza mecánica correspondiente a una señal eléctrica de accionamiento; un portamuestras (11) con dos piezas soporte desviables entre sí a lo largo de la línea de transmisión de fuerzas, sobre una de las cuales (200; 300; 400) se conecta la fuerza aplicada por el convertidor (9) y se puede fijar una primera zona de la muestra, mientras que sobre la otra pieza soporte (210, 212; 303, 305; 401, 402) se recoge la fuerza de reacción opuesta a la fuerza aplicada y se puede fijar una segunda zona de la muestra alejada de la primera zona de la misma; un dispositivo (15) para medir la desviación relativa entre sí de las dos piezas soporte (200, 210, 212; 300, 303, 305; 400, 401, 402) ocasionada por la fuerza aplicada; y un dispositivo de ajuste (13) con una pieza de conexión (50) conectada a un extremo de la línea de transmisión de fuerzas, ajustable transversalmente respecto al eje longitudinal a lo largo de un primer eje espacial y a lo largo de un segundo eje espacial ortogonal respecto al anterior, caracterizado porque el dispositivo de ajuste (13) comprende un primer carro (33) guiado de modo desplazable a lo largo del primer eje espacial, así como un marco basculante (41) en el primer carro (33) guiado de forma desplazable sobre un primer segmento de superficies de guía (40, 40') cilíndrico con un primer eje cilíndrico paralelo al primer eje espacial, y un segundo carro (45) en el marco basculante (41) guiado de modo desplazable a lo largo del segundo eje espacial, en el que se guía de modo desplazable la pieza de conexión (50) sobre un segundo segmento de superficies de guía (49, 49') cilíndrico con un segundo eje cilíndrico paralelo al segundo eje espacial.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: METTLER-TOLEDO AG.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: IM LANGACHER,8606 GREIFENSEE.

Inventor/es: BUCK, REINHOLD.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 3 de Febrero de 2000.

Fecha Concesión Europea: 26 de Marzo de 2008.

Clasificación PCT:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > G01N19/00 (Investigación sobre los materiales por procedimientos mecánicos (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación de las propiedades mecánicas de los... > G01N3/18 (Realización de ensayos a altas o bajas temperaturas)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación de las propiedades mecánicas de los... > G01N3/38 (engendrados por medios electromagnéticos)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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