SISTEMA OPTICO DE ALTA DEFINICION.
SISTEMA OPTICO DE ALTA DEFINICION PARA INSPECCION DE PIEZAS PARA REALIZAR UNA INSPECCION DETALLADA DE PIEZAS.
UN DISPOSITIVO ACOPLADO EN CARGA PROPORCIONA ALTA DEFINICION EN AMBOS EJES X E Y. LOS DATOS PROCEDENTES DEL DISPOSITIVO DE ACOPLAMIENTO EN CARGA, RESULTANTES DE UNA PIEZA NORMALIZADA, SE ALMACENAN EN FORMA COMPRIMIDA. LOS DATOS COMPRIMIDOS DE UNA PIEZA EN INSPECCION SE COMPARAN CON LOS DATOS COMPRIMIDOS DE LA PIEZA NORMALIZADA PARA DETERMINAR SI LA PIEZA COMPROBADA ES BUENA O NO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: FMC CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 200 EAST RANDOLPH DRIVE CHICAGO, ILLINOIS.
Inventor/es: BAIRD, RANDY K., MARTIN, JAMES P., TURCHECK, JR., STANLEY P.
Fecha de Solicitud: 11 de Septiembre de 1991.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 10 de Marzo de 1994.
Clasificación Internacional de Patentes:
- B07C5/00 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B07 SEPARACION DE SOLIDOS; CLASIFICACION. › B07C CLASIFICACION POSTAL; CLASIFICACION DE OBJETOS INDIVIDUALES O DE UN MATERIAL A GRANEL MANIPULABLE PIEZA POR PIEZA COMO OBJETOS INDIVIDUALES (especialmente adaptada a un fin determinado previsto en otra clase, ver la clase apropiada, p. ej. A43D 33/06, B23Q 7/12). › Clasificación según una característica o una particularidad de los objetos o del material a clasificar, p. ej. clasificación controlada por un dispositivo que detecta o mide esta característica o particularidad; Clasificación con ayuda de dispositivos manuales, p. ej. sistemas de agujas (clasificación exclusivamente manual B07C 7/00; separación de diferentes sólidos unos de otros por cribado, tamizado o utilización de corrientes de gas, u otra separación por vía seca para materiales a granel B07B; selección de monedas G07D).
- G01B11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
Patentes similares o relacionadas:
DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE COTAS GEOMÉTRICAS, del 2 de Julio de 2020, de EMPRESA DE TRASPORTE MASIVO DEL VALLE DE ABURRA LTDA. - METRO DE MEDELLIN LTDA: La presente invención se refiere a dispositivos y métodos de medición de cotas geométricas en cables de un teleférico para verificar que el desplazamiento del cable […]
Sistema de medición óptica, del 10 de Junio de 2020, de METRONOR A/S: Un sistema para la medición de coordenadas espaciales y/o la orientación de una sonda , que comprende: a) un primer sensor de dirección espacial […]
Procedimiento y sistema para la calibración de un sistema de visión por ordenador, del 1 de Abril de 2020, de Oy Mapvision Ltd: Procedimiento para la calibración de un sistema de visión por ordenador tridimensional, comprendiendo dicho procedimiento las etapas de: disponer […]
Dispositivo de control tridimensional sin contacto de una pieza hueca con superficie interna de revolución y procedimiento correspondiente, del 1 de Abril de 2020, de DWFritz Automation, Inc: Dispositivo de control tridimensional sin contacto de una pieza hueca con superficie interna de revolución, denominada pieza hueca que va a controlarse, comprendiendo […]
Método y sistema para inspeccionar una pieza de trabajo, del 18 de Marzo de 2020, de THE BOEING COMPANY: Un método para inspeccionar una pieza de trabajo , comprendiendo dicho método: la introducción de datos del modelo asociado con la pieza de trabajo […]
Detección de posición, del 18 de Marzo de 2020, de Airbus Operations Limited: Aparato para determinar la posición de un objeto que tiene uno o más elementos magnéticos , el aparato comprende una […]
Métodos y sistemas de unión ala-fuselaje, del 29 de Enero de 2020, de THE BOEING COMPANY: Un metodo de union ala-fuselaje para una aeronave , comprendiendo el metodo:
(a) calcular un ajuste virtual entre un conjunto […]
PROCEDIMIENTO DE CARACTERIZACION DE ELEMENTOS REFLECTORES A PARTIR DE LOS HACES DE LUZ REFLEJADOS EN LOS MISMOS, del 27 de Enero de 2020, de FUNDACION CENER-CIEMAT: Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterización de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos y en […]