Dispositivo de cálculo de patrón de modulación, dispositivo de control de luz, método de cálculo de patrón de modulación, programa de cálculo de patrón de modulación y medio de almacenamiento.

Un aparato de cálculo de patrón de modulación configurado para calcular un patrón de modulación presentado en un modulador de luz espacial (16) para modular al menos uno de un espectro de intensidad y un espectro de fase de luz de entrada para llevar una forma de onda de intensidad temporal de luz cerca de una forma de onda deseada,

comprendiendo el aparato:

una unidad de transformada de Fourier iterativa (22a, 23a), configurada para realizar una transformada de Fourier en una función de forma de onda en un dominio de frecuencia que incluye una función de espectro de intensidad (A0 k(ω)) y una función de espectro de fase (Ψ0 n(ω)), realiza una primera sustitución de una función de forma de onda de intensidad temporal basándose en la forma de onda deseada en un dominio de tiempo después de la transformada de Fourier y a continuación realiza una transformada de Fourier inversa, y realiza una segunda sustitución para restringir una función de espectro de la función de espectro de intensidad y la función de espectro de fase en el dominio de la frecuencia después de la transformada de Fourier inversa; y

una unidad de cálculo de patrón de modulación (24) configurada para calcular el patrón de modulación basándose en la otra salida de función de espectro de la unidad de transformada de Fourier iterativa (22a, 23a), caracterizado por que

la unidad de transformada de Fourier iterativa (22a, 23a) está configurada para realizar la primera sustitución usando un resultado de multiplicación de una función que representa la forma de onda deseada por un coeficiente (α), y

el coeficiente (α) tiene un valor en el que una diferencia entre la función (α x Target0(t)) después de la multiplicación y la función de forma de onda de intensidad temporal (bn, k(t)) después de la transformada de Fourier es menor que una diferencia antes de la multiplicación del coeficiente (α).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2016/064041.

Solicitante: HAMAMATSU PHOTONICS K.K..

Inventor/es: INOUE, TAKASHI, TAKAHASHI, KOJI, WATANABE,KOYO.

Fecha de Publicación: 3 de Junio de 2020.

Clasificación Internacional de Patentes:

G02F1/01 FISICA. › G02 OPTICA. › G02F DISPOSITIVOS O SISTEMAS CUYO FUNCIONAMIENTO OPTICO SE MODIFICA POR EL CAMBIO DE LAS PROPIEDADES OPTICAS DEL MEDIO QUE CONSTITUYE A ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS Y DESTINADOS AL CONTROL DE LA INTENSIDAD, COLOR, FASE, POLARIZACION O DE LA DIRECCION DE LA LUZ, p. ej. CONMUTACION, APERTURA DE PUERTA, MODULACION O DEMODULACION; TECNICAS NECESARIAS PARA EL FUNCIONAMIENTO DE ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS; CAMBIO DE FRECUENCIA; OPTICA NO LINEAL; ELEMENTOS OPTICOS LOGICOS; CONVERTIDORES OPTICOS ANALOGICO/DIGITALES. › G02F 1/00 Dispositivos o sistemas para el control de la intensidad, color, fase, polarización o de la dirección de la luz que llega de una fuente de luz independiente, p. ej. conmutación, apertura de puerta o modulación; Optica no lineal. › para el control de la intensidad, de la fase, de la polarización o del color (G02F 1/29, G02F 1/35 tienen prioridad).
G02F1/13 G02F 1/00 […] › basados en cristales líquidos, p. ej. celdas de presentación individuales de cristales líquidos.
G02F1/133 G02F 1/00 […] › Disposiciones relativas a la estructura; Excitación de celdas de cristales líquidos; Disposiciones relativas a los circuitos (disposiciones o circuitos para el control de elementos de cristal líquido en una matriz, no estructuralmente asociados a los elementos G09G 3/36).
G05B15/02 G […] › G05 CONTROL; REGULACION. › G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 15/00 Sistemas controlados por un computador (G05B 13/00, G05B 19/00 tienen prioridad; controladores automáticos con características particulares G05B 11/00; computadores en sí G06). › eléctricos.
G06F17/14 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 17/00 Equipo o métodos de procesamiento de datos o de cálculo digital, especialmente adaptados para funciones específicas (recuperación de la información, estructuras de las bases de datos o estructuras de los sistemas de archivos G06F 16/00). › Transformaciones de Fourier, de Walsh o las transformaciones de espacios análogos.
H01S3/00 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EL PROCESO DE AMPLIFICACION DE LUZ MEDIANTE EMISION ESTIMULADA DE RADIACIÓN [LASER] PARA AMPLIFICAR O GENERAR LUZ; DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN EMISION ESTIMULADA DE RADIACION ELECTROMAGNETICA EN RANGOS DE ONDA DISTINTOS DEL ÓPTICO. › Láseres, es decir, dispositivos que utilizan la emisión estimulada de la radiación electromagnética en el rango de infrarrojos, visible o ultravioleta (láseres de semiconductores H01S 5/00).

PDF original: ES-2805336_T3.pdf

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