Dispositivo de prueba.
Un dispositivo (1) de prueba para probar un dispositivo (2) fotovoltaico,
particularmente una celda solar, que tiene un área (3) de contacto eléctrico en su superficie plana, comprendiendo el dispositivo (1) de prueba:
una base (4) de soporte para soportar el dispositivo (2) fotovoltaico, teniendo la base (4) de soporte una superficie (5) de soporte para recibir el dispositivo (2) fotovoltaico,
un dispositivo (20, I, V) de medición,
al menos un medio de contacto eléctrico para establecer temporalmente un contacto eléctrico entre el dispositivo (20, I, V) de medición y el área (3) de contacto eléctrico del dispositivo (2) fotovoltaico,
caracterizado porque los medios de contacto eléctrico comprenden al menos un alambre (6) flexible que es eléctricamente conductor y está dispuesto para recibir el dispositivo (2) fotovoltaico entre la superficie (5) de soporte y él mismo,
y que el dispositivo (1) de prueba comprende medios (10, 11, 12, 19, 14) de forzamiento para forzar al menos una porción del alambre (6) flexible a adaptarse a tope a lo largo de su extensión longitudinal contra el área (3) de contacto eléctrico del dispositivo (2) fotovoltaico cuando el dispositivo (2) fotovoltaico es recibido por la superficie (5) de soporte,
en el que el alambre (6) flexible es capaz de adaptar su recorrido o forma al contorno de la forma del área (3) de contacto del dispositivo (2) fotovoltaico, y
donde el alambre (6) flexible se extiende libremente al menos en su sección de contacto, que en la posición de contacto del alambre (6) flexible hace tope contra el área (3) de contacto eléctrico del dispositivo (2) fotovoltaico, y donde el alambre (6) flexible está tensado, en donde preferiblemente la tensión en el alambre (6) es mayor que N, preferiblemente aproximadamente 50 N, cuando no se toca una celda o la base de soporte.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2013/053918.
Solicitante: Pasan SA.
Nacionalidad solicitante: Suiza.
Dirección: Rue Jaquet-Droz 8 2000 Neuchâtel SUIZA.
Inventor/es: ALBERS,Bas, BÄTZNER,DERK, CLERC,CHARLES, NETO,EMANUEL, VOLLUZ,PATRICK, BELJEAN,PIERRE-RENÉ, PAPET,PIERRE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/40 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de fuentes de alimentación (ensayos de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
- H02S50/10 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayos de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
PDF original: ES-2686572_T3.pdf
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